阶梯孔深度测量装置的制作方法

文档序号:12265008阅读:938来源:国知局
阶梯孔深度测量装置的制作方法

本发明属于一种测量校验装置,具体涉及一种阶梯孔深度测量装置。



背景技术:

目前,在批量检测过程中,阶梯孔深度通常采用卡尺测量,卡尺需频繁锁紧,取出读数,所用工时较长;并且当阶梯孔的阶梯面为斜面时,卡尺不易卡到斜面的最低处,难以保证检验结果的准确性。

因此,目前阶梯孔的深度测量尤其是带斜面阶梯孔深度的测量还面临需要多次读数、不易测量斜面最低处、批量检测效率低下、检测质量难以避免人为误差等诸多问题。



技术实现要素:

本发明为解决现有技术存在的问题而提出,其目的是提供一种阶梯孔深度测量装置。

本发明的技术方案是:一种阶梯孔深度测量装置,包括深度规主体,所述深度规主体轴线方向形成阶梯装配孔,所述阶梯装配孔中滑动设置有测杆,所述测杆上端形成柱状套装弹簧的凸台,下端形成探入待测阶梯孔的测量柱,所述测量柱下端形成圆环,所述圆环端面形成测量锥面,所述深度规主体上端设置有端盖,所述端盖的通孔中设置有百分表,所述百分表的百分表测量杆与凸台相接触,所述弹簧的自由端压在端盖的端面上。

所述测量锥面的斜度大于待测阶梯孔的阶梯面斜度。

所述深度规主体下端还设置有校准组件,所述校准组件包括套在测量柱外侧的校验标准件和校验标准件下方的标准件座,所述校验标准件、标准件座通过螺钉固定。

所述校验标准件的孔深为待测阶梯孔深度上、下限之和的一半。

所述端盖、深度规主体通过Ⅱ号螺钉进行固定,Ⅱ号螺钉穿过端盖拧入到深度规主体上端的螺孔中。

所述端盖、百分表通过Ⅰ号螺钉进行固定,Ⅰ号螺钉沿径向穿过端盖顶紧百分表。

所述深度规主体侧壁中沿径向设置有Ⅲ号螺钉,所述Ⅲ号螺钉穿过深度规主体顶紧测杆。

本发明中测量锥面的斜度大于待测阶梯孔的阶梯面斜度,使测量时测杆的锐边能够测到阶梯孔的最深处,保证了深度测量的准确性,配置校准组件,能够根据百分表指针左右摆动的格数,结合公差带要求直接做出合格性判定,所需工时短;采用弹簧机构控制测杆的测量压力,使测量压力有效地传递给百分表测量杆,保证了系统的稳定性,本发明提高了测量效率和测量质量。

附图说明

图1 是本发明的主视图;

图2 是本发明的左视图;

图3 是本发明所针对测量工件的剖视图;

其中:

1 百分表 2 百分表测量杆

3 端盖 4 Ⅰ号螺钉

5 Ⅱ号螺钉 6 弹簧

7 测杆 8 深度规主体

9 校验标准件 10 标准件座

11 Ⅲ号螺钉 12 待测阶梯孔。

具体实施方式

以下,参照附图和实施例对本发明进行详细说明:

如图1~3所示,一种阶梯孔深度测量装置,包括深度规主体8,所述深度规主体8轴线方向形成阶梯装配孔,所述阶梯装配孔中滑动设置有测杆7,所述测杆7上端形成柱状套装弹簧6的凸台,下端形成探入待测阶梯孔12的测量柱,所述测量柱下端形成圆环,所述圆环端面形成测量锥面,所述深度规主体8上端设置有端盖3,所述端盖3的通孔中设置有百分表1,所述百分表1的百分表测量杆2与凸台相接触,所述弹簧6的自由端压在端盖3的端面上。

所述测量锥面的斜度大于待测阶梯孔12的阶梯面斜度。

所述深度规主体8下端还设置有校准组件,所述校准组件包括套在测量柱外侧的校验标准件9和校验标准件9下方的标准件座10,所述校验标准件9、标准件座10通过螺钉固定。

所述校验标准件9的孔深为待测阶梯孔12深度上、下限之和的一半。

所述端盖3、深度规主体8通过Ⅱ号螺钉5进行固定,Ⅱ号螺钉5穿过端盖3拧入到深度规主体8上端的螺孔中。

所述端盖3、百分表1通过Ⅰ号螺钉4进行固定,Ⅰ号螺钉4沿径向穿过端盖3顶紧百分表1。

所述深度规主体8侧壁中沿径向设置有Ⅲ号螺钉11,所述Ⅲ号螺钉11穿过深度规主体8顶紧测杆7。

所述的百分表测量杆2、测杆7、深度规主体8同轴。

本发明的工作过程如下:

设百分表1的一个格代表1,待测阶梯孔12深度尺寸为,则校验标准件9的深度为,首先采用校准组件对测量装置进行校准,将测杆7的测量柱置于校验标准件9中,转动百分表1的表盘至指针指向读数0,该0位的意义为测杆7的当前值为,完成测量前的校准。

测量时,将测杆7的测量柱放入待测阶梯孔12中,查看百分表1表针摆动格数,当表针的左右摆动格数不大于时,表明待测阶梯孔12合格,当表针的左右摆动格数大于时,表明待测阶梯孔12不合格。

本实施例说明了应用本装置完成阶梯孔深度的合格性判定的方法。当需检测孔深数值时,计算方法为。

本发明中测量锥面的斜度大于待测阶梯孔的阶梯面斜度,使测量时测杆的锐边能够测到阶梯孔的最深处,保证了深度测量的准确性,配置校准组件,能够根据百分表指针左右摆动的格数,结合公差带要求直接做出合格性判定,所需工时短;采用弹簧机构控制测杆的测量压力,使测量压力有效地传递给百分表测量杆,保证了系统的稳定性,本发明提高了测量效率和测量质量。

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