技术编号：12268791
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体制造领域，尤其涉及一种防止芯片熔丝误熔断的方法。背景技术在芯片测试中，修整(Trimming)测试是非常重要的测试部分，其可以提高某些参数的精度。修整是指在芯片制造完成后，通过外部向芯片内部写入数据，来调整芯片某些参数的技术。通常在芯片上设计了很多熔丝(e-fuse)，如果某根熔丝熔断，即相当于为电路串联或并联了一个电阻，如果预先控制某根熔丝对应的电阻阻值大小，那么按照一定的熔断组合，就可以比较精确的控制最终给电路附加的电阻大小，以满足某些参数需要高精度的需求。修整测试过程：AT...
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