技术编号：12277758
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于芯片开关技术领域，尤其涉及一种HUB模块。背景技术在半导体测试领域，随着需要测试产品的种类的增加，测试系统所要处理的信号变得越复杂，对于测试系统的性能和适用性要求也就变得越来越高，但现有的测试系统还无法满足较大的动态范围信号的接收，处理和输出，所以导致现有的测试系统适用性受到很大的限制。同时，现有的半导体测试系统里的自动衰减网络大多采用机械开关，相比较于芯片开关，它的切换速度慢，成本高，体积也较大。对于现在高度集成化的高速电子信息时代，这是致命的缺陷。发明内容发明目的：针对现有技术中存...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。