技术编号：12357882
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种利用单个串联供体受体结构测量受体-供体消光系数比值的方法技术领域本发明属于荧光共振能量转移检测技术领域，具体涉及一种利用单个串联供体受体结构测量受体-供体消光系数比值(γ)的方法。背景技术基于受体敏化发射的光谱分离技术已经被广泛用于FRET定量检测，其中spFRET方法已经被用于研究活细胞中的动态生化事件。受体-供体消光系数比值(γ)的测定对于spFRET定量检测至关重要。Wlodarczyk[WlodarczykJ,WoehlerA,KobeF,etal.AnalysisofFRETsig...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。