技术编号:12358932
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用作动器带动治具及封闭件同步位移,令治具伸入通过隔离室的移料口,在测试座执行移入或下压电子元件的作业时,利用封闭件直接将隔离室的移料口封闭,以防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业,进而有效提升测试品质的具有防杂讯机构的电子元件测试装置。背景技术在现今,无线通讯电子元件(如射频IC)已广泛应用于行动电话、基地台或无线网路等,为确保无线通讯电子元件的出厂品质,业者必须测试无线通讯电子元件的接收/发送射频信号等功能;请参阅第1、2图,目前测试方式是在电子元件测试设备的机台11的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。