具有防杂讯机构的电子元件测试装置及其测试分类设备的制作方法

本发明涉及一种利用作动器带动治具及封闭件同步位移，令治具伸入通过隔离室的移料口，在测试座执行移入或下压电子元件的作业时，利用封闭件直接将隔离室的移料口封闭，以防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，进而有效提升测试品质的具有防杂讯机构的电子元件测试装置。

背景技术：

在现今，无线通讯电子元件(如射频IC)已广泛应用于行动电话、基地台或无线网路等，为确保无线通讯电子元件的出厂品质，业者必须测试无线通讯电子元件的接收/发送射频信号等功能；请参阅第1、2图，目前测试方式是在电子元件测试设备的机台11的开放空间设有测试机构12，该测试机构12设有具测试座122的电路板121，该测试座122并设有复数个探针123，用以电性接触无线通讯电子元件13的接点131，该测试设备的移料机构(图未示出)设有作第一、二、三方向(如X、Y、Z方向)位移的移料器14，该移料器14具有吸嘴治具141，并以吸嘴治具141吸附待测的无线通讯电子元件13，而将无线通讯电子元件13移载置入于测试座122内，然为使无线通讯电子元件13的接点131与测试座122的探针123确实接触，该测试设备以一压接机构的下压器15作Z方向位移而压抵无线通讯电子元件13，使无线通讯电子元件13的接点131与测试座122的探针123保持电性接触，再以测试机(图未示出)发送测试信号供无线通讯电子元件13接收，令无线通讯电子元件13于测试座122上执行测试作业，并依测试结果而淘汰不良品的无线通讯电子元件13；然而，该测试机构12的测试座122是在开放空间对无线通讯电子元件13执行测试作业，由于开放空间会存在有其他杂讯，导致无线通讯电子元件13不仅会接收到测试机发送的测试信号，也会接收到其他杂讯，导致测试作业中易受其他杂讯干扰，而会发生误判为不良品的情形，造成影响测试品质的缺失。

技术实现要素：

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置及其测试分类设备，利用作动器带动治具及封闭件同步位移，令治具伸入通过隔离室的移料口，在测试座执行移入或下压电子元件的作业时，利用封闭件直接将隔离室的移料口封闭，以防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，进而有效提升测试品质。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置，其特征在于，包含：

测试机构：设有具有至少一测试座的电路板，用以测试电子元件；

防杂讯机构：设有具有至少一容置空间的隔离室，以容置该测试机构的测试座，该隔离室设有至少一相通该容置空间及外部的移料口，该防杂讯机构设有至少一作动器，该至少一作动器装配至少一执行预设作业的治具，还在该至少一作动器上设有至少一封闭该移料口的封闭件。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该防杂讯机构的隔离室是外罩或具承板的中空室体。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该防杂讯机构的作动器设有带动至少一移动架作至少一方向位移的第一驱动源，该至少一移动架上装配有至少一治具，还在该至少一移动架上装配有该至少一封闭件。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该防杂讯机构的作动器装配有至少一具有吸嘴的压取治具，以压抵贴置于该测试座的电子元件上。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该防杂讯机构是在该隔离室的外部设有第一作动器，该第一作动器带动至少一治具及至少一封闭该移料口的第一封闭件作至少一方向位移，还在该隔离室的内部设有第二作动器，该第二作动器带动至少一封闭该治具的第二封闭件作至少一方向位移。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该第一作动器设有带动至少一移动架作至少一方向位移的第二驱动源，该至少一移动架上装配有该至少一治具及该第一封闭件，该第二作动器设有带动该第二封闭件作复数个方向位移的第四驱动源及第五驱动源。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该第一作动器设有带动至少一移动架作至少一方向位移的第二驱动源，该至少一移动架上装配有该第一封闭件，以及带动该至少一治具作Z方向位移的第三驱动源，另该第二作动器设 有带动该第二封闭件作复数个方向位移的第四驱动源及第五驱动源。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该测试机构设有复数个测试座，该防杂讯机构的隔离室开设有复数个移料口，该作动器上设有封闭该复数个移料口的复数个封闭件。

所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置，该作动器设有带动至少一移动架作复数个方向位移的第六驱动源及第七驱动源，该至少一移动架上设有复数个治具及该复数个封闭件。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案还包括：

一种应用具有防杂讯机构的电子元件测试装置的测试分类设备，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台上，并设有至少一供料承置器，用以容纳至少一待测的电子元件；

收料装置：配置于该机台上，并设有至少一收料承置器，用以容纳至少一已测的电子元件；

至少一根据权利要求1所述的具有防杂讯机构的电子元件测试装置；

输送装置：装配于该机台上，并设有至少一移料器，用以移载该电子元件；

中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。

本发明的优点之一，提供一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置，其包含测试机构及防杂讯机构，该测试机构设有具有至少一测试座的电路板，并以测试座测试电子元件，该防杂讯机构设有至少一具容置空间的隔离室，该隔离室容置测试机构的测试座，并开设有至少一相通容置空间及外部的移料口，另该防杂讯机构设有至少一作动器，该至少一作动器上设有至少一执行预设作业的治具及至少一封闭移料口的封闭件，进而作动器带动治具及封闭件同步位移，令治具伸入通过隔离室的移料口而于测试座执行移入或下压电子元件的作业，并利用封闭件直接将隔离室的移料口封闭，以防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，达到有效提升测试品质的实用效益。

本发明的优点之二，提供一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置，其中，该防杂讯机构的作动器带动至少一具有吸嘴的压取治具及至少一封闭件作至少一方向位移，由于压取治具的吸嘴管路相通至隔离室的外部，于作动器上的压取治具将电子元件移入至测试座，并压抵电子元件与测试座确实接触时，可令 压取治具贴置于电子元件上而封闭吸嘴，并利用封闭件封闭隔离室的移料口，进而确实封闭压取治具及移料口，以有效防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，达到有效提升测试品质的实用效益。

本发明的优点之三，提供一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置，其中，该防杂讯机构是在隔离室的外部设有第一作动器，并以第一作动器带动至少一第一封闭件作至少一方向位移，还在隔离室的内部设有第二作动器，并以第二作动器带动至少一第二封闭件作至少一方向位移，当第一作动器上的吸嘴治具将电子元件移入测试座后，即脱离电子元件，该第二作动器带动第二封闭件下压电子元件与测试座确实接触，由于吸嘴治具的管路相通至隔离室的外部，该第一作动器即带动吸嘴治具位移贴置于第二封闭件上而封闭，并以第一封闭件封闭隔离室的移料口，进而确实封闭吸嘴治具及移料口，以有效防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，达到有效提升测试品质的实用效益。

本发明的优点之四，提供一种应用具有防杂讯机构的电子元件测试装置的测试分类设备，包含机台、供料装置、收料装置、测试装置、输送装置及中央控制装置，该供料装置装配于机台上，并设有至少一供料承置器，以容纳至少一待测的电子元件，该收料装置装配于机台上，并设有至少一收料承置器，以容纳至少一已测的电子元件，该测试装置装配于机台上，并设有测试机构及防杂讯机构，分别对电子元件执行测试作业，以及防止其他杂讯干扰测试作业，该输送装置装配于机台上，并设有至少一移料器，用以移载电子元件，该中央控制装置用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

附图说明

图1是现有测试装置执行无线通讯电子元件测试作业的使用示意图(一)；

图2是现有测试装置执行无线通讯电子元件测试作业的使用示意图(二)；

图3是本发明测试装置第一实施例的示意图；

图4是本发明测试装置第一实施例的使用示意图(一)；

图5是本发明测试装置第一实施例的使用示意图(二)；

图6是本发明测试装置第一实施例的使用示意图(三)；

图7是测试装置第一实施例的作动器另一实施例示意图；

图8是作动器另一实施例的使用示意图(一)；

图9是作动器另一实施例的使用示意图(二)；

图10是本发明测试装置第二实施例的示意图；

图11是本发明测试装置第二实施例的使用示意图(一)；

图12是本发明测试装置第二实施例的使用示意图(二)；

图13是本发明测试装置第二实施例的使用示意图(三)；

图14是本发明测试装置第二实施例的使用示意图(四)；

图15是测试装置第二实施例的第一作动器另一实施例示意图；

图16是第一作动器另一实施例的使用示意图(一)；

图17是第一作动器另一实施例的使用示意图(二)；

图18是第一作动器另一实施例的使用示意图(三)；

图19是第一作动器另一实施例的使用示意图(四)；

图20是本发明测试装置第三实施例的示意图；

图21是本发明测试装置第三实施例的使用示意图(一)；

图22是本发明测试装置第三实施例的使用示意图(二)；

图23是本发明测试装置第三实施例的使用示意图(三)；

图24是本发明测试装置应用于测试分类设备的示意图。

附图标记说明：[现有技术]机台11；测试机构12；电路板121；测试座122；探针123；无线通讯电子元件13；接点131；移料器14；吸嘴治具141；下压器15；[本发明]测试装置20；测试机构21；电路板211；测试座212；探针213；防杂讯机构22；隔离室221；容置空间2211；移料口2212；作动器222；第一驱动源2221；移动架2222；下压治具2223；压取治具2224；封闭件223；防杂讯机构23；隔离室231；容置空间2311；移料口2312；第一作动器232；第二驱动源2321；移动架2322；第三驱动源2323；吸嘴治具2324；压取治具2325；第一封闭件233；第二作动器234；第四驱动源2341；第五驱动源2342；第二封闭件235；防杂讯机构24；隔离室241；容置空间2411；移料口2412；作动器242；第六驱动源2421；第七驱动源2422；移动架2423；下压治具2424；封闭件243；移料器31；吸嘴治具311；无线通讯电子元件40；接点41；机台50；供料装置60；供料承置器61；收料装置70；收料承置器71；搬送装置80；输入端输送机构81；第一供料载台82；第二供料载台83；第一拾取机构84；第二拾取机构85；第一收料载台86；第二收料载台87；输出端输送机构88。

具体实施方式

为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3，是本发明测试装置20的第一实施例，其包含测试机构21及防杂讯机构22，该测试机构21设有具有至少一测试座212的电路板211，以测试电子元件，更进一步，该电路板可为具测试程式的电路板，也或电性连结测试机的电路板，于本实施例中，该电子元件是无线通讯电子元件，该电路板211上配置有测试座212，并电性连结测试机，该测试座212具有复数个为探针213的传输件，用以电性接触该无线通讯电子元件的接点，以测试无线通讯电子元件的接收/发送信号功能是否异常等；该防杂讯机构22设有至少一具容置空间的隔离室，该隔离室容置测试机构21的测试座212，更进一步，该隔离室可为一外罩而罩置于测试座212的外部，或为一具承板的中空室体，该承板可为独立板体，或利用测试机构的电路板作为承板，也或利用机台作为承板，用以承置电路板，于本实施例中，该隔离室221是一以隔离材制成的外罩，并于内部设有容置空间2211，该隔离室221罩置于测试座212的外部，并放置于机台上，使测试座212位于容置空间2211，又该隔离室221设有至少一相通容置空间2211及外部的移料口，于本实施例中，是在隔离室221的顶面开设有移料口2212，以使容置空间2211相通至隔离室221的外部，该移料口2212并对应于测试座212，另该防杂讯机构22设有至少一作动器，该至少一作动器上装配有至少一执行预设作业的治具，更进一步，该防杂讯机构22可配置一独立的作动器，或以移料机构(图未示出)的具有吸嘴治具的移料器，或具有压取治具的压取器作为该防杂讯机构22的作动器，也或以压接机构(图未示出)的具有下压治具的下压器作为该防杂讯机构22的作动器，于本实施例中，该防杂讯机构22是在隔离室221的上方设有作动器，该作动器设有第一驱动源，以带动至少一移动架作至少一方向位移，于本实施例中，该作动器222设有第一驱动源2221，以带动一移动架2222作Z方向位移，该移动架2222上装配有下压治具2223，以下压测试座212内的无线通讯电子元件，另该防杂讯机构22是在作动器222上设有至少一封闭移料口2212的封闭件223，于本实施例中，该封闭件223由隔离材制成，并装配于作动器222的移动架2222上而作Z方向位移，用以封闭隔离室221的移料口2212。

请参阅图4，于使用时，由于该测试机构21的测试座212位于防杂讯机构22的隔离室221内，该移料机构的移料器31带动一吸附有待测无线通讯电子元件40的吸嘴治具311作Y方向位移，将待测的无线通讯电子元件40移载至隔离室221的移料口2212上方，移料器31再带动吸嘴治具311作Z方向向下位移，令吸嘴治具311通过隔离室221的移料口2212，而伸入于隔离室221的容置空间2211内，将待测的无线通讯电子元件40移载置入于该测试机构21的测试座212内。

请参阅图5，于测试机构21的测试座212承置待测的无线通讯电子元件40后，该移料器的吸嘴治具作Z方向向上位移复位，为防止测试座212内的无线通讯电子元件40受到外部杂讯干扰，该防杂讯机构22的作动器222以第一驱动源2221带动移动架2222、下压治具2223及封闭件223作Z方向向下位移，令下压治具2223通过隔离室221的移料口2212，而伸入于隔离室221的容置空间2211内，以下压测试座212上的待测无线通讯电子元件40，使待测无线通讯电子元件40的接点41确实接触测试座212的探针213而执行测试作业，然于作动器222带动下压治具2223作Z方向向下位移时，并利用封闭件223直接封闭隔离室221的移料口2212，以完全防止隔离室221外部的杂讯干扰测试作业，使待测无线通讯电子元件40于封闭的隔离室221内进行测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

请参阅图6，于测试作业完毕后，该防杂讯机构22的作动器222带动移动架2222、下压治具2223及封闭件223作Z方向向上位移，令封闭件223开启隔离室221的移料口2212，该下压治具2223脱离测试座212上的已测无线通讯电子元件40，并通过隔离室221的移料口2212，而离开隔离室221的容置空间2211，以供移料机构(图未示出)的移料器31的吸嘴治具311作Y－Z方向位移，经由隔离室221的移料口2212，而取出测试座212上的已测无线通讯电子元件40，以便将已测的无线通讯电子元件40移载至下一装置处。

请参阅图7、图8，是防杂讯机构22的作动器另一实施例，该防杂讯机构22的作动器装配有至少一具有吸嘴的压取治具，以压抵贴置于该测试座212的电子元件上，更进一步，该作动器设有第一驱动源，以带动至少一移动架作至少一方向位移，该至少一移动架设有具有吸嘴的压取治具，于本实施例中，该作动器222以第一驱动源2221带动移动架2222作Y－Z方向位移，该移动架2222上设有封闭件223及具有吸嘴的压取治具2224，该压取治具2224的吸嘴 可于受压时作适当缓冲变形或内缩位移，于本实施例中，该压取治具2224的吸嘴于受压时作内缩位移；于使用时，该防杂讯机构22以作动器222的第一驱动源2221带动移动架2222、一吸附有待测无线通讯电子元件40的压取治具2224及封闭件223作Y－Z方向位移，令压取治具2224带动待测的无线通讯电子元件40通过隔离室221的移料口2212，将待测的无线通讯电子元件40移载置入于测试机构21的测试座212内，并下压待测的无线通讯电子元件40，使待测无线通讯电子元件40的接点41确实接触测试座212的探针213而执行测试作业，由于压取治具2224压抵贴合于无线通讯电子元件40上，而可利用无线通讯电子元件40封闭压取治具2224的吸嘴，以防止外部杂讯经由压取治具2224的吸嘴管路而干扰隔离室221内的测试作业，然于作动器222带动压取治具2224将待测的无线通讯电子元件40置入测试座212时，可利用封闭件223封闭隔离室221的移料口2212，因此，该防杂讯机构22可确实封闭压取治具2224的吸嘴及隔离室221的移料口2212，以有效防止隔离室221外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业，达到有效提升测试品质的实用效益。

请参阅图9，于测试作业完毕后，该防杂讯机构22的作动器222以第一驱动源2221带动移动架2222、压取治具2224及封闭件223作Z方向向上位移，令封闭件223开启隔离室221的移料口2212，并以压取治具2224的吸嘴取出测试座212上的已测无线通讯电子元件40，且通过隔离室221的移料口2212，而离开隔离室221，以便将已测的无线通讯电子元件40移载至下一装置处。

请参阅图10，是本发明测试装置20的第二实施例，其包含测试机构21及防杂讯机构23，该测试机构21设有具有至少一测试座212的电路板211，以测试电子元件，于本实施例中，该电子元件是无线通讯电子元件，该电路板211上配置有测试座212，并电性连结测试机，该测试座212具有复数个为探针213的传输件，用以电性接触该无线通讯电子元件的接点，以测试无线通讯电子元件的接收/发送信号功能是否异常等；该防杂讯机构23设有至少一具容置空间的隔离室，该隔离室容置测试机构21的测试座212，于本实施例中，该隔离室231是一以隔离材制成的外罩，并于内部设有容置空间2311，该隔离室231罩置于测试座212的外部，并放置于机台上，使测试座212位于容置空间2311，又该隔离室231设有相通容置空间2311及外部的移料口，于本实施例中，是在隔离室231的顶面开设有移料口2312，以使容置空间2311相通至隔离室231的外部，该移料口2312并对应于测试座212，另该防杂讯机构23设有至少一第一 作动器，该至少一第一作动器上装配有至少一执行预设作业的治具，更进一步，该防杂讯机构23可配置独立的第一作动器，或以移料机构(图未示出)的具有吸嘴治具的移料器，或具有压取治具的压取器作为该防杂讯机构23的第一作动器，也或以压接机构(图未示出)的具有下压治具的下压器作为该防杂讯机构23的第一作动器，又该第一作动器设有带动至少一移动架作至少一方向位移的第二驱动源，于本实施例中，该防杂讯机构23利用一移料机构的移料器作为第一作动器232，该第一作动器232设有第二驱动源2321，第二驱动源2321带动一移动架2322作Y－Z方向位移，该移动架2322上并装配有一第三驱动源2323，以带动一吸嘴治具2324作Z方向小行程位移，以移载取放无线通讯电子元件，另该防杂讯机构23是在第一作动器232上设有至少一封闭移料口2312的第一封闭件233，并于隔离室231的内部设有至少一第二作动器234，该第二作动器234带动至少一封闭该治具的第二封闭件235位移，更进一步，该第二作动器234设有带动该第二封闭件235作复数个方向位移的第四驱动源及第五驱动源，于本实施例中，该第一封闭件233由隔离材制成，并装配于第一作动器232的移动架2322上，而由第一作动器232带动作Y－Z方向位移，用以封闭隔离室231的移料口2312，另该第二作动器234设有一第四驱动源2341，以带动一第五驱动源2342作Y方向位移，第五驱动源2342则带动第二封闭件235作Z方向位移，第二封闭件235用以下压测试座212内的无线通讯电子元件，并封闭吸嘴治具2324。

请参阅图11，于使用时，由于测试机构21的测试座212装配于防杂讯机构23的隔离室231内，该防杂讯机构23以第一作动器232的第二驱动源2321带动移动架2322、第三驱动源2323、一吸附有待测无线通讯电子元件40的吸嘴治具2324及第一封闭件233作Y方向位移，令吸嘴治具2324将待测的无线通讯电子元件40移载至隔离室231的移料口2312上方，第二驱动源2321再带动移动架2322、第三驱动源2323、吸嘴治具2324及第一封闭件233作Z方向向下位移，令吸嘴治具2324通过隔离室231的移料口2312，而伸入于隔离室231的容置空间2311内，第三驱动源2323再带动吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，使吸嘴治具2324将待测的无线通讯电子元件40移载置入于测试机构21的测试座212内，该防杂讯机构23并利用第一封闭件233封闭隔离室231的移料口2312。

请参阅图12、图13，于测试机构21的测试座212承置待测的无线通讯电 子元件40后，该防杂讯机构23的第一作动器232以第三驱动源2323带动吸嘴治具2324作Z方向向上位移一小段行程，令吸嘴治具2324暂时脱离待测的无线通讯电子元件40，并仍位于隔离室231内，接着第二作动器234利用第四驱动源2341及第五驱动源2342带动第二封闭件235作Y－Z方向位移，令第二封闭件235下压测试座212内待测的无线通讯电子元件40，使待测无线通讯电子元件40的接点41确实接触测试座212的探针213而执行测试作业；由于吸嘴治具2324的抽气管路相通至隔离室231的外部，为防止外部杂讯经由吸嘴治具2324的抽气管路而干扰隔离室231内的测试作业，该防杂讯机构23是在第二封闭件235下压待测无线通讯电子元件40与测试座212确实接触后，利用第一作动器232的第三驱动源2323带动吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，使吸嘴治具2324贴置于第二封闭件235的顶面，进而封闭吸嘴治具2324，因此，该防杂讯机构23利用第一作动器232上的第一封闭件233封闭隔离室231的移料口2312，并以第二作动器234上的第二封闭件235封闭吸嘴治具2324，进而有效防止隔离室231外部的杂讯干扰影响无线通讯电子元件40的测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

请参阅图14，于测试作业完毕后，该防杂讯机构23的第一作动器232利用第三驱动源2323带动吸嘴治具2324作Z方向向上位移一小段行程，使吸嘴治具2324先脱离第二封闭件235的顶面，该第二作动器234再利用第四驱动源2341及第五驱动源2342带动第二封闭件235作Y－Z方向反向位移复位，令第二封闭件235脱离已测的无线通讯电子元件40，由于吸嘴治具2324仍位于隔离室231内，该第一作动器232即利用第三驱动源2323带动吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，令吸嘴治具2324取出测试座212上的已测无线通讯电子元件40，该第一作动器232的第二驱动源2321即带动移动架2322、第三驱动源2323、一吸附有已测无线通讯电子元件40的吸嘴治具2324及第一封闭件233作Z方向向上位移较大行程，令第一封闭件233开启隔离室231的移料口2312，并以吸嘴治具2324将已测的无线通讯电子元件40移出隔离室231，该第一作动器232再带动吸嘴治具2324、第一封闭件233及已测的无线通讯电子元件40作Y方向位移至下一装置处。

请参阅图15、图16，是防杂讯机构23的第一作动器另一实施例，该第一作动器设有第二驱动源，以带动至少一移动架作至少一方向位移，于本实施例中，该第一作动器232以第二驱动源2321带动移动架2322作Y－Z方向位移， 该移动架2322上设有第一封闭件233及具有吸嘴的压取治具2325，该压取治具2325的吸嘴可于受压时作适当缓冲变形或内缩位移，于本实施例中，该压取治具2325的吸嘴于受压时作内缩位移，该防杂讯机构23的第二作动器234带动至少一第二封闭件235位移，并以第二封闭件235封闭压取治具2325，于本实施例中，第二作动器234设有第四驱动源2341及第五驱动源2342，以驱动至少一第二封闭件235作Y－Z方向位移；于使用时，该防杂讯机构23以第一作动器232的第二驱动源2321带动移动架2322、一吸附有待测无线通讯电子元件40的压取治具2325及第一封闭件233作Y－Z方向位移，令压取治具2325带动待测的无线通讯电子元件40通过隔离室231的移料口2312，并将待测的无线通讯电子元件40移载置入于测试机构21的测试座212内，以及利用第一封闭件233封闭隔离室231的移料口2312。

请参阅图17、图18，于测试机构21的测试座212承置待测的无线通讯电子元件40后，该防杂讯机构23的第一作动器232以第二驱动源2321带动压取治具2325作Z方向向上位移一小段行程，令压取治具2325脱离待测的无线通讯电子元件40，并仍位于隔离室231内，接着第二作动器234利用第四驱动源2341及第五驱动源2342带动第二封闭件235作Y－Z方向位移，令第二封闭件235下压测试座212内待测的无线通讯电子元件40，使待测无线通讯电子元件40的接点41确实接触测试座212的探针213而执行测试作业；为防止外部杂讯经由压取治具2325的抽气管路而干扰隔离室231内的测试作业，该防杂讯机构23是在第二封闭件235下压待测无线通讯电子元件40与测试座212确实接触后，利用第一作动器232的第二驱动源2321带动压取治具2325作Z方向向下位移一小段行程，使压取治具2325贴置于第二封闭件235上，以封闭压取治具2325的吸嘴，进而有效防止隔离室231外部的杂讯干扰影响无线通讯电子元件40的测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

请参阅图19，于测试作业完毕后，该防杂讯机构23的第一作动器232利用第二驱动源2321带动压取治具2325作Z方向向上位移一小段行程，使压取治具2325先脱离第二封闭件235，该第二作动器234再利用第四驱动源2341及第五驱动源2342带动第二封闭件235作Y－Z方向反向位移复位，令第二封闭件235脱离已测的无线通讯电子元件40，由于压取治具2325仍位于隔离室231内，该第一作动器232即利用第二驱动源2321带动压取治具2325作Z方向向下位移一小段行程，令压取治具2325取出测试座212上的已测无线通讯电子元件40， 该第一作动器232的第二驱动源2321再带动移动架2322、一吸附有已测无线通讯电子元件40的压取治具2325及第一封闭件233作Z方向向上位移较大行程，令第一封闭件233开启隔离室231的移料口2312，并以压取治具2325将已测的无线通讯电子元件40移出隔离室231，该第一作动器232再带动压取治具2325、第一封闭件233及已测的无线通讯电子元件40作Y方向位移至下一装置处。

请参阅图20，是本发明测试装置20的第三实施例，其包含测试机构21及防杂讯机构24，该测试机构21设有具有至少一测试座的电路板，以测试电子元件，于本实施例中，该电子元件是无线通讯电子元件，测试机构21并设有具复数个测试座212的电路板211，该电路板211并电性连结测试机，各测试座212具有复数个为探针213的传输件，用以电性接触该无线通讯电子元件的接点，以测试无线通讯电子元件的接收/发送信号功能是否异常等；该防杂讯机构24设有具有至少一容置空间的隔离室，该隔离室容置测试机构21的测试座212，于本实施例中，该隔离室241是一以隔离材制成的外罩，并于内部设有容置空间2411，该隔离室241罩置于测试座212的外部，并放置于机台上，使测试座212位于容置空间2411，又该隔离室241设有相通容置空间2411及外部的移料口，于本实施例中，是在隔离室241的顶面开设有复数个移料口2412，以使容置空间2411相通至隔离室241的外部，另该防杂讯机构24设有至少一作动器，该至少一作动器上装配有至少一执行预设作业的治具，更进一步，该至少一作动器设有带动至少一移动架作复数个方向位移的第六驱动源及第七驱动源，于本实施例中，该防杂讯机构24是在隔离室241的上方设有作动器242，该作动器242设有第六驱动源2421，以带动第七驱动源2422作Y方向位移，第七驱动源2422则带动一移动架2423作Z方向位移，该移动架2423上设有复数个下压治具2424，用以下压复数个测试座212内的无线通讯电子元件，另该防杂讯机构24是在作动器242上设有至少一封闭移料口的封闭件，于本实施例中，是在作动器242的移动架2423上设有复数个封闭件243，各封闭件243由隔离材制成，以封闭隔离室241的复数个移料口2412。

请参阅图21，于使用时，由于测试机构21的复数个测试座212位于防杂讯机构24的隔离室241内，该防杂讯机构24以作动器242的第六驱动源2421带动第七驱动源2422、移动架2423、复数个下压治具2424及复数个封闭件243作Y方向位移，令复数个封闭件243与复数个移料口2412错位，该移料机构的移料器31带动复数个吸附有待测无线通讯电子元件40的吸嘴治具311作Y－ Z方向位移，将复数个待测的无线通讯电子元件40经由移料口2412而移载至隔离室241内，并移入放置于测试机构21的测试座212。

请参阅图22，于测试机构21的各测试座212承置待测的无线通讯电子元件40后，由于隔离室241的移料口2412未封闭，为防止各测试座212内的待测无线通讯电子元件40受到外部杂讯干扰，该防杂讯机构24的作动器242的第六驱动源2421带动第七驱动源2422、移动架2423、复数个下压治具2424及复数个封闭件243作Y方向反向位移，令复数个下压治具2424及复数个封闭件243对应于隔离室241的复数个移料口2412，作动器242再以第七驱动源2422带动移动架2423、复数个下压治具2424及复数个封闭件243作Z方向向下位移，令复数个下压治具2424分别通过隔离室241的移料口2412，而伸入于隔离室241的容置空间2411内，以各别下压测试座212上的待测无线通讯电子元件40，使各待测无线通讯电子元件40的接点41确实接触测试座212的探针213而执行测试作业，然于各下压治具2424压抵待测的无线通讯电子元件40时，该作动器242上的复数个封闭件243即直接封闭隔离室241的移料口2412，以完全防止隔离室241外部的杂讯干扰测试作业，使待测无线通讯电子元件40于封闭的隔离室241内进行测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

请参阅图23，于测试作业完毕后，该作动器242的第七驱动源2422带动移动架2423、复数个下压治具2424及复数个封闭件243作Z方向向上位移，令复数个封闭件243开启隔离室241的移料口2412，并使复数个下压治具2424分别脱离已测的无线通讯电子元件40，并通过隔离室241的移料口2412，而离开隔离室241的容置空间2411，作动器242的第六驱动源2421带动第七驱动源2422、移动架2423、复数个下压治具2424及复数个封闭件243作Y方向位移，令复数个封闭件243与复数个移料口2412错位，以供移料机构的移料器31的复数个吸嘴治具311作Y－Z方向位移，于隔离室241内的测试座212取出已测的无线通讯电子元件40，并将已测的无线通讯电子元件40移载至下一装置处。

请参阅图24，本发明测试装置20应用于测试分类设备，测试分类设备包含机台50、供料装置60、收料装置70、测试装置20、输送装置80及中央控制装置，该供料装置60装配于机台50，并设有至少一供料承置器61，用以容纳至少一待测的电子元件；该收料装置70装配于机台50，并设有至少一收料承置器71，用以容纳至少一已测的电子元件，该测试装置20装配于机台50上，并设有测试机构21及防杂讯机构22，该测试机构21用以测试电子元件，该防杂讯 机构22对电子元件执行预设作业(如下压作业)，以及防止其他杂讯干扰测试机构21的测试作业，该输送装置80的输入端输送机构81是在供料装置60取出待测的电子元件，并分别输送至第一供料载台82及第二供料载台83，第一供料载台82及第二供料载台83将待测的电子元件载送至测试装置20处，该输送装置80的第一移料机构84及第二移料机构85分别将第一供料载台82及第二供料载台83上待测的电子元件移载至测试装置20而执行测试作业，以及将测试装置20处的已测电子元件移载至第一收料载台86及第二收料载台87，第一收料载台86及第二收料载台87则载出已测的电子元件，该输送装置80的输出端输送机构88是在第一收料载台86及第二收料载台87上取出已测的电子元件，并依据测试结果，将已测的电子元件输送至收料装置70分类收置，该中央控制装置用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。