技术编号：12456195
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及到测试集成电路(IC)，并且更特别地，涉及测试具有低功率扫描系统的集成电路。背景技术在集成电路(IC)中广泛使用扫描链以获得IC的内部节点的接入，从而通过经由IC的触发器通过测试数据来简化IC的测试。图1是包括彼此平行布置的多个扫描链102的常规扫描系统100的示意性框图。每个扫描链102都由多个级联的常规触发器单元104形成。图2是图1的触发器单元104中的一个的示意性框图。触发器单元104包括主锁存器106、具有连接至主锁存器106的输出端子的输入端子的从锁存器108，和具有连接至...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。