技术编号：12461366
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电力系统领域，特别涉及一种防止单粒子翻转误动作的开入跳闸方法及系统。背景技术随着半导体技术的迅猛发展，器件的特征尺寸越来越小，工作电压越来越小，相应地，临界负荷越来越小，单粒子翻转效应越容易发生。单粒子翻转效应主要发生在数字电路中，如FPGA、SRAM、DRAM和CPU内的各类寄存器、存储器等，使存储的信息发生改变，导致程序出错。为了解决上述问题，采用出口跳闸的方式，如图2所示的单粒子翻转的开入跳闸装置，该装置配置有一块电源插件、一块开入插件、一块CPU插件、一块人机接口插件、一块跳闸...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。