技术编号:12489607
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及抗辐射集成电路设计技术领域,尤其是一种基于异构双模冗余的抗辐射加固锁存器。背景技术在航空环境中,由于宇宙射线的影响,会产生各种粒子,包括α粒子,质子和中子,当这些粒子打到飞行器上,将会使芯片中的电路发生单粒子瞬态SET或者单粒子翻转SEU,甚至随着集成电路尺寸的缩减,会发生多点翻转MNU。这样就会使电路存储的逻辑值发生翻转,使得电路产生功能性错误。因此为了使电路行使正确的功能,就要对电路进行抗辐射加固设计。锁存器是常用的时序逻辑器件,所以抗辐射加固设计一个重要的方面就是对锁存器加固。目...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。