技术编号：12592269
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及安全类芯片量产测试领域，特别是涉及一种扫描链控制电路设计方法。本发明还涉及一种扫描链电路。背景技术测试成本逐渐在芯片整个生产制造过程中所占比例越来越大，因此量产测试方法已经广泛应用到芯片中，比如扫描链测试。但是由于安全类芯片基于安全考虑，还是使用最原始的功能测试方法，使得测试成本无法降低。图1是传统扫描链电路结构图，图2是传统扫描链电路的内部结构图。以图1图2所示电路为例，所有寄存器受外部引脚时钟clk,复位rst,测试模式test_mode,扫描使能scan_en直接控制，只要攻破了...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。