技术编号:12658644
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种FPGA(FieldProgrammableGateArray,现场可编程门阵列)测试平台及方法。背景技术为了满足用户的需求和发展的趋势,FPGA器件的功能越来越强大,大规模和超大模块已形成一种发展的趋势。目前大多FPGA器件在生产成型之后,为了验证其功能的完善性以及工作的稳定性,需要对其进行测试,通常需要技术人员将测试向量和相关配置项的格式手动转化为相应的文件格式后,再手动输入到测试机台,然后通过机台对FPGA器件进行相应的测试过程。由于对FPGA器件的测试...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。