一种FPGA测试平台及方法与流程

本发明涉及电子
技术领域：
，尤其涉及一种FPGA(FieldProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)测试平台及方法。
背景技术：
：为了满足用户的需求和发展的趋势，FPGA器件的功能越来越强大，大规模和超大模块已形成一种发展的趋势。目前大多FPGA器件在生产成型之后，为了验证其功能的完善性以及工作的稳定性，需要对其进行测试，通常需要技术人员将测试向量和相关配置项的格式手动转化为相应的文件格式后，再手动输入到测试机台，然后通过机台对FPGA器件进行相应的测试过程。由于对FPGA器件的测试仍然需要相关技术人员手动将测试文件转换为相应的格式，再通过手动输入到测试机台进行测试，对于这种规模较大，功能复杂的FPGA器件的测试，那将使测试过程变得十分困难、繁琐，需要耗费大量的人力物力，而且在测试过程，由于存在手动操作过程，因此也不可避免的存在操作失误的情况，从而影响FPGA器件的正常测试过程，降低测试效率。技术实现要素：本发明提供一种FPGA测试平台及方法，用于解决现有FPGA器件的测试过程需要人工手动测试过程，导致测试过程需要耗费大量人力物力，且效率低下的问题。为解决上述技术问题，本发明提供一种FPGA测试平台，包括：实例获取模块：用于获取测试实例，所述测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件；仿真控制模块，用于调用仿真模块，将所述测试实例的测试矢量和测试激励输入所述仿真模块进行仿真；仿真模块，用于根据所述测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果；位流控制模块，用于调用位流生成模块，将所述测试矢量和所述约束条件输入所述位流生成模块；位流生成模块，用于根据所述测试矢量和所述约束条件生成位流并输入待测FPGA芯片；比较模块，用于获取所述待测FPGA芯片根据所述位流和所述测试激励输出的运行结果，并将所述运行结果和所述仿真结果进行比较得到测试结果。进一步地，所述FPGA测试平台，还包括综合处理模块，用于在所述位流控制模块将所述测试矢量输入所述位流生成模块之前，判断所述测试矢量是否为目标网表格式，如否，将所述测试矢量转换为目标网表格式。进一步地，所述实例获取模块还用于为获取的测试实例生成实例目录，所述实例目录中包含激励子目录、测试文件子目录、仿真子目录、综合子目录以及位流子目录；所述实例获取模块还用于将所述测试实例的测试激励保存到所述激励子目录，将所述测试矢量和约束条件保存到所述测试文件子目录；所述仿真模块还用于将所述仿真结果保存到所述仿真子目录；所述综合处理模块还用于将转换为目标网表格式的测试矢量保存到所述综合子目录；所述位流生成模块还用于将所述位流保存到所述位流子目录。进一步地，所述仿真模块还用于从所述仿真结果中提取所述测试激励输入所述待测FPGA芯片。进一步地，所述FPGA测试平台还包括参数配置模块，用于配置所述仿真模块和位流生成模块的调用路径；所述仿真控制模块和所述位流控制模块用于分别根据所述仿真模块和位流生成模块的调用路径调用所述仿真模块和位流生成模块。本发明还提供一种FPGA测试方法，包括：通过实例获取模块获取测试实例，所述测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件；仿真控制模块调用仿真模块，并将所述测试实例的测试矢量和测试激励输入所述仿真模块进行仿真；仿真模块根据所述测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果；位流控制模块调用位流生成模块，并将所述测试矢量和所述约束条件输入所述位流生成模块；位流生成模块根据所述测试矢量和所述约束条件生成位流并输入待测FPGA芯片；比较模块获取所述待测FPGA芯片根据所述位流和所述测试激励输出的运行结果，并将所述运行结果和所述仿真结果进行比较得到测试结果。进一步地，所述FPGA测试方法还包括在所述位流控制模块将所述测试矢量输入所述位流生成模块之前，综合模块判断所述测试矢量是否为目标网表格式，如否，将所述测试矢量转换为目标网表格式。进一步地，所述实例获取模块获取测试实例后，还包括为获取的测试实例生成实例目录，所述实例目录中包含激励子目录、测试文件子目录、仿真子目录、综合子目录以及位流子目录；并将所述测试实例的测试激励保存到所述激励子目录，将所述测试矢量和约束条件保存到所述测试文件子目录；所述仿真模块还将所述仿真结果保存到所述仿真子目录；所述综合处理模块还将转换为目标网表格式的测试矢量保存到所述综合子目录；所述位流生成模块还将所述位流保存到所述位流子目录。进一步地，所述仿真模块根据所述测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果后，还包括从所述仿真结果中提取所述测试激励并输入所述待测FPGA芯片。进一步地，所述FPGA测试方法还包括：在所述仿真控制模块和所述位流控制模块分别调用所述仿真模块和位流生成模块之前，通过配置参数模块配置所述仿真模块和位流生成模块的调用路径；所述仿真控制模块和所述位流控制模块分别根据所述仿真模块和位流生成模块的调用路径调用所述仿真模块和位流生成模块。有益效果本发明提供一种FPGA测试平台及方法，通过实例获取模块获取测试实例，测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件；仿真控制模块调用仿真模块，并将测试实例的测试矢量和测试激励输入仿真模块进行仿真；仿真模块根据测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果；位流控制模块调用位流生成模块，并将测试矢量和约束条件输入位流生成模块；位流生成模块根据测试矢量和约束条件生成位流并输入待测FPGA芯片；比较模块获取待测FPGA芯片根据位流和测试激励输出的运行结果，并将运行结果和仿真结果进行比较得到测试结果。从而有利于实现自动化测试FPGA的目的，解决了在测试过程中，需要人工手动转换、输入相关测试文件，导致的容易出错、效率低下的问题，提升了FPGA的测试效率，也降低了FPGA的测试成本。附图说明图1为本发明实施例一中提供的FPGA测试平台的一种结构示意图；图2为本发明实施例一中提供的FPGA测试平台处理多个测试实例的一种示意图；图3为本发明实施例一中提供的FPGA测试平台的另一种结构示意图；图4为本发明实施例一中提供的FPGA测试平台的执行脚本结构示意图；图5为本发明实施例二中提供的FPGA测试方法的一种流程示意图；图6为本发明实施例二中提供的FPGA测试方法的另一种流程示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。实施例一：本实施例提供一种FPGA测试平台，请参考图1，该FPGA测试平台1包括：实例获取模块11、仿真控制模块12、仿真模块13、位流控制模块14、位流生成模块15以及比较模块16，其中：实例获取模块11，用于获取测试实例，所述测试实例包括但不限于测试矢量、测试激励以及约束条件，通过所述测试实例可以用以测试FPGA器件运行的可靠性或者功能的完善性，或者用于FPGA器件的故障检测等。应当理解的是，实例获取模块11获取的测试实例至少是一个，通常，由于FPGA器件需要测试的地方也一般比较多，因此实例获取模块11所需要获取的测试实例也相应较多，例如数十个、数百个、甚至更多。实例获取模块11具体可以获取的测试实例个数应当根据该FPGA器件所需测试的实际情况决定，例如所述待测试FPGA器件需要用于测试的测试实例为100个，那么实例获取模块11则可以获取该相应的这100个测试实例。通常，不同的测试实例所测试的FPGA器件的作用不同，得到的测试结果也不同。例如测试实例A可以用于测试FPGA器件的功能a是否完善，得到测试结果A；测试实例B可以用于测试FPGA器件的功能b是否存在故障，得到测试结果B；测试实例N可以用于测试FPGA器件的功能N是否正常，得到测试结果N，请参照图2。本领域技术人员应当明白的是，实例获取模块11可以一次获取一个测试实例(也即是串行获取)，也可以同时获取多个实例(也即是并行获取)。实例获取模块11获取测试实例的方式可以灵活设置。本实施例中，所述FPGA测试平台1还包括仿真控制模块12，用于调用仿真模块13，将测试实例中的测试矢量和测试激励输入仿真模块13进行仿真。仿真控制模块12调用仿真模块13的方法，具体的可以是通过仿真模块13的调用路径来调用仿真模块13。仿真模块13在收到仿真控制模块12调用时，可以根据测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果。所述仿真结果可以是功能正常、该功能故障、稳定性高、稳定性差等。应当理解的是，所述仿真结果还应当包含测试激励，仿真模块13还可以提取仿真结果中的测试激励输入到待测FPGA芯片中，用于待测FPGA芯片生成运行结果。应当理解的是，仿真模块13根据所述测试矢量和测试激励生成的仿真结果中所包含的测试激励，与最初仿真控制模块12输入到仿真模块13的测试激励的本质应当相同，仿真结果中的测试激励是仿真模块13为了以保证待测FPGA芯片能够识别该测试激励进行的转换处理，从而保证仿真模块13中所使用的测试激励与待测FPGA芯片的测试激励相同，这样两者分别生成的仿真结果和运行结果才具有对比的意义，保证最终的测试结果是准确有效的。当然，测试激励也可以通过设置专门的格式转换模块进行转换后输入到待测FPGA芯片，而不需要仿真模块13从仿真结果中提取。位流控制模块14，用于调用位流生成模块15，并将测试矢量和约束条件输入位流生成模块15。具体的，位流控制模块14可以通过位流生成模块15的文件路径来调用位流生成模块15，并将测试实例中的测试矢量和约束条件输入到位流生成模块15中。位流生成模块15在接收到位流控制模块14的调用后，接收该测试矢量以及约束条件，并根据所述测试矢量和约束条件生成位流，并将生成的位流输入到待测FPGA芯片中。待测FPGA芯片可以根据所述位流以及测试激励输出运行结果。比较模块16可以用于获取待测FPGA芯片根位流和测试激励输出的运行结果，并将所述运行结果和所述仿真结果进行比较得到测试结果。从而判断该测试实例是否通过，判断待测FPGA芯片的相应功能是否正常。通过实例获取模块11获取待测FPGA芯片的测试实例，仿真控制模块12调用仿真模块，并将获取到的测试实例中的测试矢量以及测试激励输入到仿真模块13中，仿真模块13便根据测试矢量以及测试激励进行仿真并得到仿真结果，位流控制模块14用于调用位流生成模块15，并将测试矢量和约束条件输入到位流生成模块15，从而生成位流，位流生成模块15还可以将生成的位流输入到待测FPGA芯片，待测FPGA芯片可以根据位流和测试激励输出运行结果，比较模块16将仿真结果和待测FPGA芯片的实际运行结果进行比较，得到测试结果。在测试FPGA芯片的过程中，实现了从获取测试实例到得到测试结果的自动化过程，不必相关技术人员在测试时转换测试文件格式、手动输入测试文件的过程，由于是对于大规模的FPGA芯片，极大减少了人力物力的投入，而且通过本实施提供的FPGA测试平台，极大提高了FPGA芯片的测试效率。请参照图3，本实施例中，所述FPGA测试平台1还可以包括综合处理模块17以及参数配置模块18，其中综合处理模块17可以用于在位流控制模块14将测试矢量输入位流生成模块15之前，判断所述测试矢量是否为目标网表格式，如果测试矢量不是目标网表格式时，例如测试矢量为RTL代码，综合处理模块17可以将所述测试矢量转换为目标网表格式，位流控制模块14再将转换为目标网表格式的测试矢量输入到位流生成模块15，以便位流生成模块15能够识别。应当理解的是，当测试矢量为目标网表格式时，则综合处理模块17可以不再进行转换处理，位流控制模块14可以直接将测试矢量输入到位流生成模块15。FPGA测试平台1还可以包括参数配置模块18，用于配置仿真模块13和位流生成模块15的调用路径；仿真控制模块12可以用于根据仿真模块13的调用路径调用仿真模块13，并将测试矢量和测试激励输入到仿真模块13进行仿真处理；位流控制模块14可以用于根据位流生成模块15的调用路径调用位流生成模块15，并将测试矢量和约束条件输入到位流生成模块15进行处理生成位流。本实施例中，实例获取模块11还可以用于为获取的测试实例生成实例目录，可以用于存放测试实例中的测试矢量、测试激励以及约束条件，以及存放仿真模块13的仿真结果、综合处理模块17转换生成的目标网表格式的测试矢量、位流生成模块15生成的位流。以便于在测试过程的错误排查，方便查错纠正。因此，所述实例获取模块11生成的实例目录可以包括：激励子目录、测试文件子目录、仿真子目录、综合子目录以及位流子目录。其中，实例获取模块11还可以用于将测试实例中的测试激励保存到激励子目录，将测试矢量和约束条件保存到测试文件子目录；仿真模块13还可以用于将仿真结果保存到仿真子目录；综合处理模块17还可以用于将转换为目标网表格式的测试矢量保存到综合子目录；位流生成模块15还可以用于将生成的位流保存到位流子目录。从而保证了测试测试文件和测试结果之间有着清晰的对应关系，在FPGA芯片测试过程中出线错误时，也可以十分方便的进行定位排查，提高测试效率。例如可以是找到对应的纠错文件，放到对应的文件夹中。由于测试FPGA芯片的过程中，实例获取模块11可能会获取多个(例如至少两个)测试实例，实例获取模块11还应当为获取到的每个测试实例生成一个相应的实例目录，保证每一个测试实例对应一个实例目录。例如，对于获取到的测试实例X，实例获取模块11为其生成的实例目录可以如下表所示：表1应当理解的是，综合子目录中可能存在经综合处理模块17转换生成的目标网表格式的测试矢量，当测试实例中的测试矢量为目标网表格式时，也不必通过综合处理模块17转换处理，位流控制模块14直接调用位流生成模块15，并将测试实例中的测试矢量输入到位流生成模块15中。因此综合子目录中也可能为空。本实施例中，实例获取模块11为获取到的测试实例生成的实例目录并不限于激励子目录、测试文件子目录、仿真子目录、综合子目录以及位流子目录，例如还可以包括IP子目录，用于保存该测试实例的位置信息。例如，对于获取到的测试实例M，实例获取模块11为其生成的实例目录可以如下表所示：表2目录名称保存内容激励子目录测试激励M测试文件子目录测试矢量M、约束条件M仿真子目录仿真结果M综合子目录目标网表格式的测试矢量M位流子目录位流MIP子目录位置M为了更好的理解本发明，请参照图4，应当说明的是，其中All.bat是本实施例中仿真控制模块12、位流控制模块14以及综合处理模块17的处理过程通过相应脚本语言来实现的具体方式，可以将其命名为All.bat。本实施例中，所述仿真控制模块12的处理过程可以通过bat、tcl这两种格式的脚本语言实现，例如通过Script.bat脚本单元来实现调用Sim.tcl脚本单元，再通过Sim.tcl脚本单元实现调用仿真模块13的过程，Sim.tcl脚本单元还可以将所述测试矢量和测试激励输入仿真模块，从而实现通过仿真控制模块12自动调用仿真模块13，并将测试矢量和测试激励自动输入到仿真模块进行仿真的过程。script.bat脚本单元和sim.tcl脚本单元可以由All.bat自动生成，具体的，例如只需在ALL.bat中配置仿真模块13的调用路径参数即可。对于本实施例中的综合处理模块17的综合处理过程，可以通过bat、tcl两种格式的脚本语言实现。例如通过图3中的Script.bat、Syn.tcl以及Syn-do.tcl脚本单元实现，其中Script.bat脚本单元可以实现调用Syn.tcl脚本单元的过程，Syn.tcl脚本单元可以调用Syn-do.tcl脚本单元，并将相应的其他非目标网表格式(例如RTL的测试矢量)的测试矢量输入到Syn-do.tcl脚本单元，Syn-do.tcl脚本单元执行将该测试矢量转换为目标网表格式。从而实现测试矢量格式的自动转换过程，减少了FPGA测试过程中技术人员的处理负担，提高了转换效率。应当理解的是，测试矢量可能目标网表格式，也可能是其他格式，当测试矢量为目标网表格式时，可以不需要综合处理模块17转换处理，具体的可以通过设置All.bat中的参数flag来控制是否使用综合处理模块17，例如将flag设置为flag＝00，表示不使用综合处理模块17，将flag设置为flag＝01，表示使用综合处理模块17，应当理解，flag的剩余位还可以是其它情况的预留位。其中，script.bat脚本单元、syn.tcl脚本单元和syn_do.tcl脚本单元可以自动生成，具体的，例如只需在ALL.bat中配置综合处理模块17的调用路径参数即可。本实施例，所述位流控制模块14调用位流生成模块，以及输入测试矢量和约束条件到位流生成模块15的具体过程可以是：通过bat、tcl两种格式的脚本语言实现。例如通过script.bat脚本单元、Pnr-do.tcl脚本单元以及Pnr.tcl脚本单元实现位流控制模块14的具体处理过程，Script.bat脚本单元调用Pnr-do.tcl脚本单元，Pnr-do.tcl脚本单元可以用于调用Pnr.tcl脚本单元，Pnr.tcl脚本单元可以用于调用位流生成模块15，并将测试矢量和约束条件输入位流生成模块15，实现自动生成位流的过程。其中script.bat脚本单元、Pnr-do.tcl脚本单元以及Pnr.tcl脚本单元可以自动生成，具体的，可以通过在ALL.bat中配置位流生成模块15的调用路径参数即可完成生成位流的过程。本实施例中，FPGA测试过程包括但不限于通过上述的bat、tcl脚本语言实现，还可以通过其他相应的脚本语言实现。本发明实施例提供一种FPGA测试平台，所述FPGA测试平台1包括实例获取模块11、仿真控制模块12、仿真模块13、位流控制模块14、位流生成模块15、比较模块16、综合处理模块17以及参数配置模块18。通过参数配置模块18用于配置仿真模块13和位流生成模块15的调用路径，仿真控制模块12和位流控制模块14用于分别根据其调用路径调用仿真模块13和位流生成模块15，其中仿真控制模块12还用于将测试矢量和测试激励输入到仿真模块13中进行仿真得到仿真结果，位流控制模块14用于将约束条件和目标网表格式的测试矢量输入到位流生成模块15，通过位流生成模块15生成位流，待测FPGA芯片根据位流生成模块15生成的位流以及仿真结果中提取的测试激励，生成运行结果，比较模块16将待测FPGA芯片生成的运行结果与仿真模块13生成的仿真结果进行比较，得到测试结果。其中，目标网表格式的测试矢量可能是通过综合处理模块17根据测试实例中的测试矢量转换生成的，也可能是测试实例中的测试矢量本身就是目标网表格式的。从而有利于实现自动化测试FPGA芯片的目的，解决了在FPGA测试过程中，需要人工手动转换、输入相关测试文件，导致的容易出错、效率低下的问题，提升FPGA的测试效率，也降低了FPGA测试成本。实施例二：本实施例提供一种FPGA测试方法，请参考图5，该FPGA测试方法包括：S11：通过实例获取模块获取测试实例。所述实例获取模块获取的测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件，通过所述测试实例可以用以测试FPGA器件运行的可靠性或者功能的完善性，或者用于FPGA器件的故障检测等，应当理解的是，测试实例至少包括一个，通常，实例获取模块获取的测试实例可能存在多个，用于分别测试FPGA芯片不同功能的状态。实例获取模块获取测试实例时，可以一次获取一个测试实例，也可以同时获取多个(至少两个)测试实例。S12：仿真控制模块调用仿真模块，并将测试矢量和测试激励输入仿真模块。仿真控制模块可以通过仿真模块的调用路径来调用仿真模块。S13：仿真模块根据所述测试矢量和测试激励进行仿真得到仿真结果。所述仿真结果中还包含测试激励，所述仿真结果中的测试激励可以直接用于待测FPGA芯片生成运行结果。应当理解的是，所述仿真结果中的测试激励与测试实例中的测试激励本质应当相同。因此，可以通过提取仿真结果中的测试激励输入到待测FPGA芯片，也可以通过将测试实例中的测试激励进行处理变换后得到与仿真结果中相同的测试激励后输入到待测FPGA芯片中。S14：位流控制模块调用位流生成模块，并将测试实例中的测试矢量以及约束条件输入位流生成模块中。位流控制模块包括但不限于通过位流生成模块的调用路径来调用位流生成模块。S15：位流生成模块根据所述测试矢量和约束条件生成位流，并将生成的位流输入待测FPGA芯片。在待测FPGA芯片收到位流生成模块生成的位流和相应的测试激励后，可以输出实际的运行结果。S16：比较模块获取待测FPGA芯片的运行结果，并将所述运行结果与仿真结果进行比较得到测试结果。例如，可以将仿真结果作为待测FPGA实际输出的运行结果的判断基准，判断实际的运行结果与仿真结果是否相符，当判断与仿真结果相符时，则可以认为该测试实例已经通过，也即该待测FPGA芯片相应的功能正常。当判断待测FPGA实际运行结果与仿真结果不相符时，则判断该测试实例没有通过。为了更好的使用本发明，本实施例还提供一种FPGA测试方法，请参照图6，所述FPGA测试方法包括：S21：通过参数配置模块配置仿真模块和位流生成模块的调用路径。为了便于仿真控制模块和位流控制模块分别对仿真模块和位流生成模块的调用，参数配置模块包括但不限于通过自动查找或者用户手动输入的方式配置仿真模块和位流控制模块的调用路径。S22：实例获取模块获取测试实例，并为获取的每一个测试实例生成一个实例目录，读取其中的每个测试实例，并将各测试实例中的测试矢量、测试激励以及约束条件保存到相应的实例目录中。所述实例获取模块生成的各实例目录包括：激励子目录、测试文件子目录、仿真子目录、综合子目录以及位流子目录。实例获取模块读取各测试实例，并将各测试实例中的测试激励保存到相应的激励子目录中，将测试矢量和约束条件保存到相应的测试文件子目录中。S23：综合处理模块判断测试实例中的测试矢量是否为目标网表格式，如否，转至步骤S23，如是，转至步骤S24。S24：综合处理模块将测试矢量转换为目标网表格式，并将其(转换成目标网表格式的测试矢量)保存在该测试实例的实例目录下的综合子目录中。应当理解的是，当综合处理模块判断测试矢量为目标网表格式时，可以对其不作处理。S25：仿真控制模块调用仿真模块，并将测试激励和测试矢量输入仿真模块。所述测试激励和测试矢量可以从相应实例目录下的激励子目录和测试文件子目录中获取。S26：仿真模块根据测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果，并将仿真结果保存到相应测试矢量的实例目录下的仿真子目录中。S27：位流控制模块调用位流生成模块，并将测试矢量和约束条件输入到位流生成模块。应当理解的是，这里所述的测试矢量可以是实例目录中综合子目录下的目标网表格式的测试矢量，也可以是直接获取的目标网表格式的测试矢量。例如，该测试实例的测试矢量本身为目标网表格式，并未经过综合处理模块转换处理，因此并未存放在该测试实例的实例目录下的综合子目录中。S28：位流生成模块根据所述测试矢量和约束条件生成位流，并将生成的位流保存到该测试实例的实例目录下的位流子目录中。待测FPGA芯片可以根据所述位流以及测试激励输出运行结果。S29：比较模块获取待测FPGA芯片输出的运行结果，并将所述运行结果和仿真结果进行对比，得到测试结果。从而判断该测试实例是否通过，判断待测FPGA芯片的相应功能是否正常。应当理解的是，整个FPGA的测试过程可以一次一个测试实例进行，待该测试实例得到测试结果后，再进行下一个实例测试，也可以同时测试多个测试实例，具体测试方式可以根据实际测试情况灵活设定。本发明实施例提供一种FPGA测试方法，通过参数配置模块配置仿真模块和位流生成模块的调用路径；实例获取模块获取测试实例，并为获取的每一个测试实例生成一个实例目录，读取其中的每个测试实例，并将其中的测试激励保存在相应的激励子目录中，将该测试实例的测试矢量以及约束文件保存在该实例目录下的测试文件子目录中；综合处理模块判断测试实例的测试矢量不是目标网表格式，将其转换为目标网表格式，并将转换后的目标网表格式的测试矢量保存在该测试实例的实例目录下的综合子目录中；根据所述调用路径，仿真控制模块调用仿真模块，将测试矢量和测试激励输入仿真模块；仿真模块根据所述测试矢量和测试激励进行仿真，得到仿真结果，并将该仿真结果保存到该测试实例的实例目录下的仿真子目录中；位流控制模块根据所述位流生成模块的调用路径，调用位流生成模块，并将约束条件和目标网表格式的测试矢量输入位流生成模块；位流生成模块根据所述约束条件和目标网表格式的测试矢量生成位流，并将生成的位流保存在该测试实例的实例目录下的位流子目录中；待测FPGA芯片根据所述位流和测试激励可以输出运行结果；比较模块获取该运行结果，并将所述运行结果与仿真模块得到的仿真结果进行比较，得到测试结果。从而有利于实现FPGA芯片的自动化测试过程，避免人工转换测试文件格式、输入测试文件的繁琐过程，提升了FPGA的测试效率，也降低了人工测试过程的出错率和测试成本，有利于提高使用体验。显然，本领域的技术人员应该明白，上述本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储介质(ROM/RAM、磁碟、光盘)中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。所以，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。以上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属
技术领域：
的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。当前第1页1 2 3