逻辑测试装置及方法与流程

本发明涉及一种逻辑测试装置及方法。

背景技术：

由于成本控制的原因，电路板的成板测试环境往往比较简单。当前市面上主要的电信号测试设备，由于功能较多、体积大、成本高，占用了大量测试用地，同时还需要电脑控制，且对控制人员的素质要求较高，造成测试成本的提高。

爱德万测试(中国)管理有限公司及其相关的母公司和子公司，是国际上从事半导体和电子逻辑信号自动测试设备开发和销售的一流公司。其产品可以通过带有操作系统的电脑/服务器/工作站，将测试激励下载到其测试设备上，并对待测设备(简称DUT，Design Under Test)进行测试，判断正误，同时在带有操作系统的电脑/服务器/工作站上将DUT实际产生的信号与预期信号进行对比，显示出来，用于调试。

该方式是一种非常完善的测试方法，但其设备体积较大，不易移动。测例装载和监测需要利用带有操作系统的电脑/服务器/工作站，通过专门的通讯通道，如串口、USB、PCI等接口，下载到设备上，该过程需要专门在测试机台边上准备放置电脑/服务器/工作站的空间，且操作流程较为复杂，对操作人员素质要求较高。在一些简单的电信号测试流程中，增添了较大的成本。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种逻辑测试装置及方法，以解决测试装置控制复杂、占用体积大、不可以灵活配置的技术问题。

为实现以上发明目的，本发明提供一种逻辑测试装置，包括配置存储模 块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块以及发光模块；

所述配置存储模块，用于固化存储测例以及配置文件；

所述可编程门阵列处理模块，用于对测试信号的发送以及处理；

所述被测装置信号接口模块，用于接收被测装置回馈的信号以及向被测装置发送测试信号；

所述发光模块，用于根据测试结果给出相应的发光提示；

所述配置存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述可编程门阵列处理模块分别与被测装置信号接口模块以及发光模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置，还包括数据传输接口模块、存储模块、按钮模块以及功能选择模块；

所述数据传输接口模块，用于逻辑测试装置与计算机数据通信；

所述存储模块，用于逻辑测试装置在外部测例下载模式下存储测例；

所述按钮模块，用于逻辑测试装置在手动测试模式下控制测试开启或停止；

所述功能选择模块，用于控制逻辑测试装置处于某种下载状态或某种测试状态；

所述数据传输接口模块与可编程门阵列处理模块连接，所述存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述按钮模块与可编程门阵列处理模块连接，所述功能选择模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括被测装置供电模块，

所述被测装置供电模块，用于直接给被测装置供电；

所述被测装置供电模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括显示接口模块，

所述显示接口模块，用于外接显示装置，并将测试结果通过显示接口模块 传输给显示装置显示；

所述显示接口模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括扩展接口模块，

所述扩展接口模块，用于给逻辑测试装置提供功能扩展接口；

所述扩展接口模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述数据传输接口模块是通用异步收发传输器接口模块。

进一步地，所述功能选择模块是拨码开关。

另一方面，本发明提供了一种逻辑测试方法，该方法运用逻辑测试装置进行测试，具体步骤如下：

步骤S1：将被测装置与逻辑测试装置连接；

步骤S2：通过功能选择模块将可编程门阵列处理模块设置为测例下载状态；

步骤S3：向可编程门阵列处理模块发送测例；

步骤S4：可编程门阵列处理模块将测例进行保存；

步骤S5：通过功能选择模块将可编程门阵列处理模块设置为测例测试状态；

步骤S6：可编程门阵列处理模块获取一个测例；

步骤S7：可编程门阵列处理模块将测例发送至被测装置信号接口模块；

步骤S8：被测装置信号接口模块将测例发送至被测装置；

步骤S9：被测装置对测例做出响应，并发送反馈信息至被测装置信号接口模块；

步骤S10：被测装置信号接口模块将反馈信息发送至可编程门阵列处理模块；

步骤S11：可编程门阵列处理模块将反馈信息与预设比较信息进行比较；

若比较结果相同时，则被测装置对该测例测试通过；

若比较结果不相同时，则被测装置对该测例测试未通过；

步骤S12：可编程门阵列处理模块判断测试是否获取完；

若未获取完时，则执行步骤S6；

若获取完时，则测试完成。

进一步地，所述步骤S2中可编程门阵列处理模块设置为测例下载状态包括；

外部测例下载模式；

内部测例下载模式。

进一步地，所述步骤S4中可编程门阵列处理模块将测例进行保存的方法包括；

若可编程门阵列处理模块是外部测例下载模式时，则将测例保存进存储模块；

若可编程门阵列处理模块是内部测例下载模式时，则将测例保存进配置存储模块。

进一步地，所述步骤S5中可编程门阵列处理模块设置为测例测试状态包括；

外部测例测试模式；

内部测例测试模式；

手动外部测例测试模式；

手动内部测例测试模式。

进一步地，所述步骤S6中可编程门阵列处理模块获取一个测例的方法包括；

若可编程门阵列处理模块是外部测例测试模式时，则可编程门阵列处理模块通过存储模块接口从存储模块中获取一个测例；

若可编程门阵列处理模块是内部测例测试模式时，则可编程门阵列处理模块通过配置存储模块接口从配置存储模块中获取一个测例；

若可编程门阵列处理模块是手动外部测例测试模式时，

则当按钮模块按下，则可编程门阵列处理模块通过存储模块接口从存储模块中获取一个测例；

当按钮模块松开，则逻辑测试装置停止测试；

若可编程门阵列处理模块是手动内部测例测试模式时，

则当按钮模块按下，则可编程门阵列处理模块通过配置存储模块接口从配置存储模块中获取一个测例；

当按钮模块松开，则逻辑测试装置停止测试。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1.运用可编程门阵列处理模块作为主芯片进行测试的技术方案，获得可以灵活调整测试通道的信号带宽的技术效果；

2.运用数据传输接口模块向可编程门阵列处理模块中下载测例的技术方案，获得了将逻辑测试过程与测例下载过程独立开，减小测试设备体积，降低操作人员要求，降低测试成本，提高了设备使用的灵活性的技术效果；

3.运用增加被测装置供电模块的技术方案，获得可以无需给被测装置外接电源，更好的提高了设备使用的灵活性的技术效果。

4.运用增加显示接口模块的技术方案，获得无需通过其他设备显示测试结果，方便监控测试的技术效果。

附图说明

图1是本发明的逻辑测试装置的框图；

图2是本发明的逻辑测试装置的另一个框图；

图3是本发明的逻辑测试装置的具体实施例框图；

图4是本发明的逻辑测试方法的流程图；

图5是本发明的逻辑测试方法的具体实施例流程图。

图中：

配置存储模块1；可编程门阵列处理模块2；被测装置信号接口模块3；发光模块4；数据传输接口模块5；存储模块6；按钮模块7；功能选择模块8；被测装置供电模块9；显示接口模块10；扩展接口模块11。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。

实施例1：

如图1所示，本发明的逻辑测试装置，包括配置存储模块1、可编程门阵列处理模块2、被测装置信号接口模块3以及发光模块4；

配置存储模块1，用于固化存储测例以及配置文件；

可编程门阵列处理模块2，用于对测试信号的发送以及处理；

被测装置信号接口模块3，用于接收被测装置回馈的信号以及向被测装置发送测试信号；

发光模块4，用于根据测试结果给出相应的发光提示；

配置存储模块1与可编程门阵列处理模块2连接，可编程门阵列处理模块2分别与被测装置信号接口模块3以及发光模块4连接。

如图4所示，本发明的逻辑测试方法，包括如下步骤:

步骤S1：将被测装置与逻辑测试装置连接；

步骤S2：通过功能选择模块8将可编程门阵列处理模块2设置为测例下载状态；

步骤S3：向可编程门阵列处理模块2发送测例

步骤S4：可编程门阵列处理模块2将测例进行保存；

步骤S5：通过功能选择模块8将可编程门阵列处理模块2设置为测例测试状态；

步骤S6：可编程门阵列处理模块2获取一个测例，

步骤S7：可编程门阵列处理模块2将测例发送至被测装置信号接口模块3；

步骤S8：被测装置信号接口模块3将测例发送至被测装置；

步骤S9：被测装置对测例做出响应，并发送反馈信息至被测装置信号接口模块3；

步骤S10：被测装置信号接口模块3将反馈信息发送至可编程门阵列处理模块2；

步骤S11：可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预设比较信息进行比较；

若比较结果相同时，则被测装置对该测例测试通过；

若比较结果不相同时，则被测装置对该测例测试未通过；

步骤S12：可编程门阵列处理模块2判断测试是否获取完；

若未获取完时，则执行步骤S6；

若获取完时，则测试完成。

结合图1和图4具体来说，在逻辑测试装置使用之前，向其中的配置存储模块1中下载所需测例。逻辑测试装置上电后，配置存储模块1中的测例被读取到可编程门阵列处理模块2中，可编程门阵列处理模块2内部逐个将测例通过被测装置信号接口模块3发送至被测装置，被测装置信号接口模块3将被测装置反馈的信息发送至可编程门阵列处理模块2，可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预期设置的值进行对比，并通过发光模块4将结果表示出来。

实施例2：

如图2所示，在实施例1的基础上对逻辑测试装置做进一步地具体化，逻辑测试装置还包括数据传输接口模块5、存储模块6、按钮模块7以及功能选择模块8；

数据传输接口模块5，用于逻辑测试装置与计算机数据通信；

存储模块6，用于逻辑测试装置在外部测例下载模式下存储测例；

按钮模块7，用于逻辑测试装置在手动测试模式下控制测试开启或停止；

功能选择模块8，用于控制逻辑测试装置处于某种下载状态或某种测试状态；

数据传输接口模块5与可编程门阵列处理模块2连接，存储模块6与可编程门阵列处理模块2连接，按钮模块7与可编程门阵列处理模块2连接，功能选择模块8与可编程门阵列处理模块2连接。

如图5所示，在实施例1的基础上对逻辑测试方法做进一步具体化，具体步骤如下：

步骤A1：将被测装置与逻辑测试装置连接；

步骤A2：通过功能选择模块8将可编程门阵列处理模块2设置为外部测例下载模式或内部测例下载模式；

步骤A3：向可编程门阵列处理模块2发送测例

步骤A4：可编程门阵列处理模块2根据下载模式对测例进行保存；

若可编程门阵列处理模块2是外部测例下载模式时，则将测例保存进存储模块6；

若可编程门阵列处理模块2是内部测例下载模式时，则将测例保存进配置存储模块1；

步骤A5：通过功能选择模块8将可编程门阵列处理模块2设置为外部测例 测试模式、内部测例测试模式、手动外部测例测试模式和手动内部测例测试模式中的一种模式；

步骤A6：可编程门阵列处理模块2根据测试模式进行测试；

若可编程门阵列处理模块2是外部测例测试模式时，则可编程门阵列处理模块2通过存储模块接口从存储模块6中获取一个测例；

若可编程门阵列处理模块2是内部测例测试模式时，则可编程门阵列处理模块2通过配置存储模块接口从配置存储模块1中获取一个测例；

若可编程门阵列处理模块2是手动外部测例测试模式时，

则当按钮模块7按下，则可编程门阵列处理模块2通过存储模块接口从存储模块6中获取一个测例；

当按钮模块7松开，则逻辑测试装置停止测试；

若可编程门阵列处理模块2是手动内部测例测试模式时，

则当按钮模块7按下，则可编程门阵列处理模块2通过配置存储模块接口从配置存储模块1中获取一个测例；

当按钮模块7松开，则逻辑测试装置停止测试；

步骤A7：可编程门阵列处理模块2将测例发送至被测装置信号接口模块3；

步骤A8：被测装置信号接口模块3将测例发送至被测装置；

步骤A9：被测装置对测例做出响应，并发送反馈信息至被测装置信号接口模块3；

步骤A10：被测装置信号接口模块3将反馈信息发送至可编程门阵列处理模块2；

步骤A11：可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预设比较信息进行比较；

若比较结果相同时，则被测装置对该测例测试通过；

若比较结果不相同时，则被测装置对该测例测试未通过；

步骤A12：可编程门阵列处理模块2判断测试是否获取完；

若未获取完时，则执行步骤A6；

若获取完时，则测试完成。

结合图2和图5具体来说，其中实施例2中步骤A2相当于实施例1中步骤S2；步骤A4相当于步骤S4；步骤A5相当于步骤S5；步骤A6相当于步骤S6。

逻辑测试装置具有两种下载模式以及三种工作模式；下载以及工作模式通过功能选择模块8进行选择，功能选择模块8可以是拨码开关；例如“001”表示外部测例下载模式；“09”表示内部测例下载模式；“010”外部测例测试模式；“90”内部测例测试模式；“91”手动外测例测试模式；“19”手动内测例测试模式。具体说明如下：

外部测例下载模式：

在计算机上将测例编辑好，并通过数据传输接口模块5向逻辑测试装置下载，数据传输接口模块5接收到测例，并逐个传递测例给可编程门阵列处理模块2，在可编程门阵列处理模块2内部设计的逻辑电路管理下，这些测例被传输给存储模块6进行保存。

内部测例下载模式：

在计算机上将测例编辑好，并通过调试通道；例如：测试行动联合团(JTAG)，将测例固化在配置存储模块1中。

外部测例测试模式：

逻辑测试装置上电后，可编程门阵列处理模块2通过存储器接口从存储模块6获取所有测例，并逐个将测例通过被测装置信号接口模块3发送至被测装置，被测装置信号接口模块3将被测装置反馈的信息发送至可编程门阵列处理 模块2，可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预期设置的值进行对比，并通过发光模块4将结果表示出来。

内部测例测试模式：

逻辑测试装置上电后，可编程门阵列处理模块2获取配置存储模块1中所有的测例，并逐个将测例通过被测装置信号接口模块3发送至被测装置，被测装置信号接口模块3将被测装置反馈的信息发送至可编程门阵列处理模块2，可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预期设置的值进行对比，并通过发光模块4将结果表示出来。

手动测例测试模式：

手动测例测试模式分为两种，一种是手动外部测例测试模式，另一种是手动内部测例测试模式。

逻辑测试装置上电后，并不直接进行测试，而是等待测试人员按动按钮模块7，当测试人员按动按钮模块7时，根据拨码开关选择的进行相应的手动测试具体测例测试模式。当测试人员松开按钮模块7时，测试停止。

实施例3：

如图3所示，在实施例2的基础上对逻辑测试装置做进一步具体化，逻辑测试装置还包括被测装置供电模块9、显示接口模块10以及扩展接口模块11，

被测装置供电模块9，用于直接给被测装置供电；

显示接口模块10，用于外接显示装置，并将测试结果通过显示接口模块传输给显示装置显示；

扩展接口模块11，用于给逻辑测试装置提供功能扩展接口；

被测装置供电模块9分别与电源模块1以及可编程门阵列处理模块2连接，显示接口模块10与可编程门阵列处理模块2连接，扩展接口模块11与可编程 门阵列处理模块2连接；

具体来说，在逻辑测试装置中增加被测装置供电模块9可以在无法或不方便给被测装置供电的情况下，由逻辑测试装置直接给被测装置供电，增加了逻辑测试装置的使用灵活性。在逻辑测试装置中增加显示接口模块10，可以方便外接显示装置，可以通过显示接口模块10将测试过程以及测试结果通过显示装置直观的展示出来，方便测试人员对测试过程以及测试结果的掌控。扩展接口模块11可以让逻辑测试装置具有扩展功能，比如可以扩展声音提示功能等，使得逻辑测试装置具有很好的适宜性。

除上述实施例外，本发明还可以有其他实施方式，凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本发明的保护范围内。