技术总结
本发明公开了一种逻辑测试装置及方法，包括配置存储模块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块、数据传输接口模块、被测装置供电模块、显示接口模块以及发光模块；所述可编程门阵列处理模块分别与配置存储模块、被测装置信号接口模块、数据传输接口模块、被测装置供电模块、显示接口模块以及发光模块连接。通过本发明能够实现灵活调整测试通道的信号带宽、将逻辑测试过程与测例下载过程独立开、减小测试设备体积、降低操作人员要求、降低测试成本以及提高了设备使用的灵活性的技术效果。
技术研发人员：孙轶群
受保护的技术使用者：深圳市盛德金科技有限公司
文档号码：201510884678
技术研发日：2015.12.04
技术公布日：2017.06.13