一种多功能半导体电学性质快速测试装置的制作方法

本发明涉及半导体测试技术领域，具体为一种多功能半导体电学性质快速测试装置。

背景技术：

在已有技术中，对于半导体器件的电学性能测试，我们需要得到器件的电压、流过器件的电流，对于发光器件还需要获取器件的发光强度信息。测试时，一般通过铁夹子将电压源或电流源的正负极和半导体器件的相应电极连接起来，从而给半导体器件提供电压或电流，使器件处于工作状态。通常为了保证测试过程中电压源或电流源和器件之间接触良好，需要将铁夹子设计得很尖很硬，这样夹在器件两端就很有可能将电极夹坏 ；如果待测半导体器件为发光器件，还需要一台额外的光谱仪通过探头对焦后测量发光器件的光强，这样需要搭建一整套光学电学测试系统，操作繁琐且成本昂贵。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种多功能半导体电学性质快速测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种多功能半导体电学性质快速测试装置, 包括测试盒本体，所述测试盒本体分为测试盒底座和测试盒上盖，所述测试盒底座和测试盒上盖活动连接，所述测试盒底座内设有多个卡槽，且所述卡槽内固定有帕尔贴片，所述卡槽的前端设有测试探针，且所述测试探针连接设置在测试探针下方的弹性伸缩组件。

优选的，所述弹性伸缩组件包括滑动轴、滑动轴承、固定块、压缩弹簧、调节螺丝，所述滑动轴固定设置在探针一侧，所述滑动轴承设置在滑动轴上，所述固定块设置在滑动轴承两侧，所述压缩弹簧设置在滑动轴承上方，所述调节螺丝底端穿过压缩弹簧与滑动轴承顶端接触。

优选的，所述测试探针、帕尔贴片分别连接PCB板，且测试探针分别并联连接设置在测试盒底座上的电压表和电流表。

优选的，所述测试盒上盖内侧设有弹性橡胶柱，且所述测试盒上盖采用透明玻璃。

优选的，所述卡槽设置2-5个。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明结构原理简单，能够实现对半导体器件的快速测试；在测试探针下端设置弹性伸缩组件，能够在测试过程中自动对测试探针进行伸缩，确保完全接触且探针不易损坏，使用寿命长；同时测试探针分别并联连接设置在测试盒底座上的电压表和电流表；测得的电参数能够实时显示，方便测试人员查看测试数据。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明的弹性伸缩组件结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-2，本发明提供一种技术方案：一种多功能半导体电学性质快速测试装置, 包括测试盒本体1，所述测试盒本体1分为测试盒底座2和测试盒上盖3，所述测试盒底座2和测试盒上盖3活动连接，所述测试盒底座2内设有多个卡槽4，卡槽4设置2-5个，设置多个卡槽，方便同时测试多个半导体器件；且所述卡槽4内固定有帕尔贴片5，所述卡槽4的前端设有测试探针6，且所述测试探针6连接设置在测试探针6下方的弹性伸缩组件7。

本实施例中，弹性伸缩组件7包括滑动轴8、滑动轴承9、固定块10、压缩弹簧11、调节螺丝12，所述滑动轴8固定设置在探针6一侧，所述滑动轴承9设置在滑动轴8上，所述固定块10设置在滑动轴承9两侧，所述压缩弹簧11设置在滑动轴承9上方，所述调节螺丝12底端穿过压缩弹簧11与滑动轴承9顶端接触。本发明中，在测试探针下端设置弹性伸缩组件，能够在测试过程中自动对测试探针进行伸缩，确保完全接触且探针不易损坏，使用寿命长。

本实施例中，测试探针6、帕尔贴片5分别连接PCB板13，且测试探针6分别并联连接设置在测试盒底座2上的电压表14和电流表15。

另外，本实施例中，测试盒上盖3内侧设有弹性橡胶柱16，且所述测试盒上盖3采用透明玻璃17。采用弹性橡胶柱，便于在测试时，测试盒上盖合拢时，弹性橡胶柱顶住半导体器件，使半导体器件与测试探针接触更紧密；采用透明玻璃，方便测试发光二极管这类半导体器件。

本发明的有益效果是：本发明结构原理简单，能够实现对半导体器件的快速测试；在测试探针下端设置弹性伸缩组件，能够在测试过程中自动对测试探针进行伸缩，确保完全接触且探针不易损坏，使用寿命长；同时测试探针分别并联连接设置在测试盒底座上的电压表和电流表；测得的电参数能够实时显示，方便测试人员查看测试数据。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。