技术总结
本发明公开了一种多功能半导体电学性质快速测试装置，包括测试盒本体，测试盒本体分为测试盒底座和测试盒上盖，测试盒底座和测试盒上盖活动连接，测试盒底座内设有多个卡槽，且卡槽内固定有帕尔贴片，卡槽的前端设有测试探针，且测试探针连接设置在测试探针下方的弹性伸缩组件，测试探针分别连接PCB板，且测试探针分别并联连接设置在测试盒底座上的电压表和电流表，测试盒上盖内侧设有弹性橡胶柱，本发明结构原理简单，能够实现对半导体器件的快速测试，且探针不易损坏，使用寿命长；同时测得的电参数能够实时显示。
技术研发人员：张伟;张树霞
受保护的技术使用者：马鞍山纽盟知识产权管理服务有限公司
文档号码：201710239678
技术研发日：2017.04.13
技术公布日：2017.06.13