技术编号:12659330
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线检测领域,尤其涉及一种X射线检测系统。背景技术X射线检测仪器是主要用于检测电离辐射的仪器,而X射线标准辐射装置主要用于对X射线检测仪器的检定、校准和检测。是现有设备中,发射装置通常采用固定的方式,原因是拆卸后很难复位,再加上在拆卸和运输的过程中容易产生震动或者碰撞的情况,导致发射装置通常采用固定连接,并且,待检装置需要多次调整和发射装置之间的距离,获得相应的参数,才能够检测出待检装置是否符合规定,但是X射线标准辐射装置的辐射质较多,人员无法靠近仪器,从而无法实现对X射线轴向方向的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。