X射线检测系统的制作方法

文档序号:12659330阅读:148来源:国知局
X射线检测系统的制作方法与工艺

本发明涉及X射线检测领域,尤其涉及一种X射线检测系统。



背景技术:

X射线检测仪器是主要用于检测电离辐射的仪器,而X射线标准辐射装置主要用于对X射线检测仪器的检定、校准和检测。是现有设备中,发射装置通常采用固定的方式,原因是拆卸后很难复位,再加上在拆卸和运输的过程中容易产生震动或者碰撞的情况,导致发射装置通常采用固定连接,并且,待检装置需要多次调整和发射装置之间的距离,获得相应的参数,才能够检测出待检装置是否符合规定,但是X射线标准辐射装置的辐射质较多,人员无法靠近仪器,从而无法实现对X射线轴向方向的调整,或者很难实现使待检装置在移动的同时,还能确保待检装置处于X射线的辐射范围内,从而导致检测出的待检仪器的对应参数不准确。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明实施例提供一种X射线检测系统,主要目的是提供一种方便对X射线检测仪器进行检定、校准和检测的X射线系统。

为达到上述目的,本发明主要提供如下技术方案:

本发明实施例提供一种X射线检测系统,该系统包括:

发射装置,发射装置包括支架和发射球管,发射球管滑动连接支架,发射球管用于发射X射线;

调节装置,调节装置设置在发射装置一侧的对应位置,用于放置待检装置,使待检装置接收X射线;

位移架,位移架固定连接支架,调节装置滑动连接位移架,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动;

控制部,控制部连接发射装置和调节装置,用于控制发射球管和调节装置的滑动距离和滑动方向。

优选地,发射球管为三个,分别为钼靶发射球管、钨靶发射球管和高频诊断发射球管。

优选地,校准装置,用于发射激光光束,校准装置包括第一校准装置和第二校准装置,第一校准装置设置在调节装置的另一侧的对应位置,第一校准装置的激光光束与X射线同轴,第二校准装置设置在调节装置的上部的对应位置,第二校准装置的激光光束垂直于X射线。

优选地,发射装置还包括过滤装置,过滤装置可拆卸连接于支架,过滤装置设置在发射球管和待检装置之间,过滤装置具有过滤孔和过滤片,过滤片设置在过滤孔内,其中一个发射球管射出的X射线通过过滤片过滤。

优选地,过滤装置包括第一转盘、第二转盘和固定架,第一转盘和第二转盘分别转动连接固定架,第一转盘和第二转盘上设置多个过滤孔和多个过滤片,其中一个发射球管射出的X射线同时通过第一转盘的其中一个过滤片和第二转盘的其中一个过滤片过滤。

优选地,调节装置包括挡板、多孔板、升降装置和滑动装置,滑动装置滑动连接于位移架,升降装置固定连接于滑动装置和多孔板,用于使多孔板在竖直方向做往复运动,挡板可拆卸连接于多孔板,挡板设置在发射装置与待检装置之间,挡板具有通孔,用于通过X射线。

优选地,丝杆,丝杆转动连接位移架,丝杆的轴线与X射线的轴线平行,控制部连接丝杆,用于使丝杆绕其轴线转动;

调节装置还包括连接部和传动轮,连接部固定连接滑动装置,传动轮转动连接连接部,丝杆与传动轮之间为蜗杆连接。

优选地,调节装置还包括平移装置,平移装置设置在升降装置和多孔板之间,平移装置固定连接多孔板,平移装置滑动连接升降装置,用于带动多孔板横向移动。

优选地,支架包括底座、平移台和铅板,底座固定连接平移台,铅板滑动连接平移台,三个发射球管可拆卸连接于铅板,过滤装置设置在底座上,支架具有工作区域和非工作区域,平移台用于将其中一个发射球管移动至工作区域,使工作区域内的发射球管发射的X射线通过过滤装置过滤。

优选地,钼靶发射球管的电压为20kV至50kV,钨靶发射球管的电压为20kV至50kV,高频诊断发射球管的电压为40kV至150kV。

本发明实施例提供的技术方案中,发射球管滑动连接支架,发射球管用于发射X射线;调节装置设置在发射装置一侧的对应位置,用于放置待检装置,待检装置用于接收X射线;位移架固定连接支架,调节装置滑动连接位移架,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动,控制部连接发射装置和调节装置,用于控制发射球管和调节装置的滑动距离和滑动方向,先将待检装置放置在调节装置上,启动发射球管,控制部根据待检装置的位置控制发射球管进行滑动,使发射球管发射出的X射线与待检装置相对应,需要测量待检装置的其他参数时,控制部控制调节装置进行滑动,使调节装置朝远离发射装置的方向移动,获得与移动距离相对应的参数,相对于现有技术,发射装置采用固定的方式,并且无法实现对X射线轴向方向的调整,或者很难实现使待检装置在移动的同时,还能确保待检装置处于X射线的辐射范围内,本发明中,控制部控制发射球管在支架上滑动,用于调整与待检装置之间的位置,控制部控制调节装置在位移架上朝着X射线延伸的轴向方向移动,从而调整待检装置与发射球管之间的距离,进而达到了方便测量待检装置的参数的技术效果。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种X射线检测系统的结构示意图;

图2为本发明实施例提供的一种X射线检测系统的俯视图;

图3为本发明实施例提供的一种过滤装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。

如图1和图2所示,本发明实施例提出的一种X射线检测系统,包括:发射装置1,发射装置1包括支架11和发射球管12,发射球管12滑动连接支架11,发射球管12用于发射X射线;调节装置2,调节装置2设置在发射装置1一侧的对应位置,用于放置待检装置9,使待检装置9接收X射线;位移架3,位移架3固定连接支架11,调节装置2滑动连接位移架3,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动;控制部8,控制部8连接发射装置1和调节装置2,用于控制发射球管12和调节装置2的滑动距离和滑动方向。

本发明实施例提供的技术方案中,发射球管12滑动连接支架11,发射球管12用于发射X射线;调节装置2设置在发射装置1一侧的对应位置,用于放置待检装置9,待检装置9用于接收X射线;位移架3固定连接支架11,调节装置2滑动连接位移架3,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动,控制部8连接发射装置1和调节装置2,用于控制发射球管12和调节装置2的滑动距离和滑动方向,先将待检装置9放置在调节装置2上,启动发射球管12,控制部8根据待检装置9的位置控制发射球管12进行滑动,使发射球管12发射出的X射线与待检装置9相对应,需要测量待检装置9的其他参数时,控制部8控制调节装置2进行滑动,使调节装置2朝远离发射装置1的方向移动,获得与移动距离相对应的参数,相对于现有技术,发射装置1采用固定的方式,并且无法实现对X射线轴向方向的调整,或者很难实现使待检装置9在移动的同时,还能确保待检装置9处于X射线的辐射范围内,本发明中,控制部8控制发射球管12在支架11上滑动,用于调整与待检装置9之间的位置,控制部8控制调节装置2在位移架3上朝着X射线延伸的轴向方向移动,从而调整待检装置9与发射球管12之间的距离,进而达到了方便测量待检装置9的参数的技术效果。

上述发射装置1的主要作用是发射X射线,发射球管12滑动连接支架11,也就是说,发射球管12能够的支架11上通过滑动来改变发射球管12的位置,通常情况下,发射球管12的移动为水平方向的横向移动,发射球管12通常采用市面上比较常见的X射线发射器,主要是射出X射线,调节装置2设置在发射装置1一侧的对应位置,用于放置待检装置9,待检装置9通常为被检测装置,位移架3固定连接支架11,调节装置2滑动连接位移架3,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动,位移架3的主要作用是为调节装置2提供位置移动,调节装置2滑动连接位移架3,通常情况下,调节装置2的移动为水平方向的纵向移动,控制部8连接发射装置1和调节装置2,用于控制发射球管12和调节装置2的滑动距离和滑动方向,由于X射线的辐射至较多,在发射球管12启动后,工作人员无法手动调节发射球管12和调节装置2的位置,因此,通过控制部8调节发射球管12和调节装置2的滑动距离和滑动方向,使工作人员更方便的测量待检装置9的参数,发射球管12射出的X射线通常定义为标准射线,通过公式计算出递减后待检装置9的位置应该获得的X射线的数值与待检装置9接收的X射线的数值进行比较,进而检测出该待检装置9是否符合国家标准。

进一步的,如图2所示,发射球管12为三个,分别为钼靶发射球管121、钼靶发射球管123和高频诊断发射球管122。本实施例中,通过在支架11上设置三个发射球管12,分别为钼靶发射球管121、钼靶发射球管123和高频诊断发射球管122,高频诊断发射球管122用于产生高频X射线,钼靶发射球管121产生软X射线,软X射线的穿透性较弱,钼靶发射球管123产生硬X射线,硬X射线的穿透性较强,通过在支架11上设置三个不同的发射球管12,每次只需将需要使用的发射球管12滑动至对应位置,即可进行后续的检测工作,并且,三个不同的发射球管12能够满足不同的测量需求,增加了检测的范围,提高了检测的工作效率。

进一步的,如图1和图2所示,增加了校准装置4,用于发射激光光束,校准装置4包括第一校准装置41和第二校准装置42,第一校准装置41设置在调节装置2的另一侧的对应位置,第一校准装置41的激光光束与X射线同轴,第二校准装置42设置在调节装置2的上部的对应位置,第二校准装置42的激光光束垂直于X射线。本实施例中,增加了校准装置4,为了进一步确定X射线的位置和准确性,第一校准装置41设置在调节装置2的另一侧的对应位置,第一校准装置41的激光光束与X射线同轴,第二校准装置42的激光光束垂直于X射线,通过两个校准装置4的激光光束确定发射球管12的位置是否正确,进而达到在检测时降低获取相关参数的误差的技术效果。

进一步的,如图1、图2和图3所示,发射装置1还包括过滤装置13,过滤装置13可拆卸连接于支架11,过滤装置13设置在发射球管12和待检装置9之间,过滤装置13具有过滤孔1311和过滤片1312,过滤片1312设置在过滤孔1311内,其中一个发射球管12射出的X射线通过过滤片1312过滤。本实施例中,增加了过滤装置13,过滤装置13设置在发射球管12和待检装置9之间,过滤装置13具有过滤孔1311和过滤片1312,过滤片1312设置在过滤孔1311内,在第一次测试时,过滤孔1311内不需要放置过滤片1312,过滤片1312的材料通常为铝或者铜,而过滤片1312的厚度由X射线的辐射质的大小决定,通过在发射球管12和待检装置9之间设置过滤装置13,对X射线进行过滤,进而达到了改变X射线的辐射光谱成分的技术效果。

进一步的,如图1、图2和图3所示,过滤装置13包括第一转盘131、第二转盘132和固定架133,第一转盘131和第二转盘132分别转动连接固定架133,第一转盘131和第二转盘132上设置多个过滤孔1311和多个过滤片1312,其中一个发射球管12射出的X射线同时通过第一转盘131的其中一个过滤片1312和第二转盘132的其中一个过滤片1312过滤。本实施例中,第一转盘131和第二转盘132分别转动连接固定架133,也就是说,第一转盘131和第二转盘132能够绕固定架133进行转动,第一转盘131和第二转盘132上设置多个过滤孔1311和过滤片1312,通常情况下,X射线会同时通过第一转盘131的过滤片1312和第二转盘132的过滤片1312,也就是说,过滤孔1311的中心和X射线同轴,过滤孔1311的数量与过滤片1312的数量不是相同的,通常在第一转盘131和第二转盘132上,分别有一个过滤孔1311不安装过滤片1312,此过滤孔1311为初始过滤孔1311,用于校准装置4对发射球管12的位置进行校准;控制部8能够控制第一转盘131和第二转盘132的转动角度,使第一转盘131和第二转盘132能够转动到需要的工作位置,进而形成固定的标准射线。

进一步的,如图1所示,调节装置2包括挡板21、多孔板22、升降装置23和滑动装置24,滑动装置24滑动连接于位移架3,升降装置23固定连接于滑动装置24和多孔板22,用于使多孔板22在竖直方向做往复运动,挡板21可拆卸连接于多孔板22,挡板21设置在发射装置1与待检装置9之间,挡板21具有通孔,用于通过X射线。本实施例中,滑动装置24滑动连接于位移架3,也就是说,滑动装置24与位移架3之间可以采用滚珠的连接方式连接,也可以采用增加润滑剂的方式使滑动装置24在位移架3上滑动,只要滑动装置24能够在位移架3上滑动即可;升降装置23固定连接于滑动装置24和多孔板22,用于使多孔板22在竖直方向做往复运动,升降装置23的主要作用是能够使多孔板22在竖直方向上做往复运动,因此,升降装置23可以是采用杠杆原理将多孔板22升起或降下的机器,也可以采用液压的方式将多孔板22升起或降下,只要能够使多孔板22在竖直方向上做往复运动即可;多孔板22上具有多个螺丝孔,用于将其他部件安装在多孔板22上,例如挡板21、显示器或者摄像头,通过螺丝将挡板21、显示器或者摄像头固定在多孔板22上;挡板21的主要作用是控制X射线的辐射范围,通常情况下,挡板21上具有通孔,通孔的形状为正方形或者长方形,X射线在通过过滤片1312后,X射线由直线改为扇形发散出去,X射线通过通孔后,待检装置9接收到的X射线的范围为通孔的大小的范围,其他位置的X射线被挡板21挡住,无法到达待检装置9,进而提高测量的精确度和精准度。

进一步的,如图1和图2所示,增加丝杆25,丝杆25转动连接位移架3,丝杆25的轴线与X射线的轴线平行,控制部8连接丝杆25,用于使丝杆25绕其轴线转动;调节装置2还包括连接部和传动轮,连接部固定连接滑动装置24,传动轮转动连接连接部,丝杆25与传动轮之间为蜗杆连接。本实施例中,在位移架3上设置丝杆25,丝杆25转动连接位移架3,连接部固定连接滑动装置24,传动轮转动连接连接部,丝杆25与传动轮之间为蜗杆连接,调节装置2移动时,控制部8控制丝杆25转动,由于丝杆25与传动轮之间为蜗杆连接,丝杆25通过传动轮带动调节装置2进行移动,从而调节调节装置2与发射装置1之间的距离,使工作人员在实验室之外就可以操作调节装置2,使调节装置2朝向远离发射装置1的方向移动,进而获得更多的检测数据;丝杆25上具有一条旋转的轨道,用于带动传动轮转动。

进一步的,如图1所示,调节装置2还包括平移装置26,平移装置26设置在升降装置23和多孔板22之间,平移装置26固定连接多孔板22,平移装置26滑动连接升降装置23,用于带动多孔板22横向移动。本实施例中,在调节装置2上设置平移装置26,该平移装置26的移动方向为水平方向的横向移动,也就是说,平移装置26的移动方向与发射球管12的移动方向相同,平移装置26设置在升降装置23和多孔板22之间,控制部8控制平移装置26带动多孔板22进行水平方向的横向移动,进而在水平方向移动多孔板22上部的待检装置9,使工作人员更方便的通过操作控制部8控制待检装置9,提高了工作效率。

进一步的,如图1所示,支架11包括底座111、平移台112和铅板113,底座111固定连接平移台112,铅板113滑动连接平移台112,三个发射球管12可拆卸连接于铅板113,过滤装置13设置在底座111上,支架11具有工作区域和非工作区域,平移台112用于将其中一个发射球管12移动至工作区域,使工作区域内的发射球管12发射的X射线通过过滤装置13过滤。本实施例中,底座111的作用是固定支架11的位置,平移台112的移动方向为水平方向的横向移动,铅板113固定连接平移台112,三个发射球管12可拆卸的连接于铅板113上,铅板113上可以设置多个螺丝孔,用于安装发射球管12或者其他设备,支架11上具有工作区域和非工作区域,通常情况下,工作区域设置在支架11的中间区域,控制部8控制平移台112移动,使其中一个发射球管12移动至工作区域,而剩下的两个球管则位于非工作区域,其中一个发射球管12发射出X射线,并通过过滤装置13进行过滤。

进一步的,钼靶发射球管121的电压为20kV至50kV,钼靶发射球管123的电压为20kV至50kV,高频诊断发射球管122的电压为40kV至150kV。本实施例中,将钼靶发射球管121的电压为2kV至50kV,钼靶发射球管123的电压为2kV至50kV,高频诊断发射球管122的电压为40kV至150kV,以适用不同的检测需要,并且增加了发射球管12的检测范围。

以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

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