技术编号:12713031
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于超分辨光学显微领域,特别涉及一种共角干涉的层析相位显微方法和装置。背景技术在显微成像中,样品的折射率分布起了非常重要的作用。首先,折射率作为一种天然的标记揭示了细胞内部的特殊结构;其次,光学非均匀性影响样品产生的光程,从而直接影响成像质量,因此定量测量样品的3D折射率分布至关重要。在基于荧光的显微技术中,荧光团对样品产生的效应以及光毒性影响细胞样品以及系统的成像稳定性。而基于相位的显微技术,如差分干涉对比显微术以及相衬显微镜对样品的影响最小,但是这种典型的透射式相位成像法仅可以测量样品...
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