技术编号：13083422
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及用于检测在光学膜的工序过程中产生的不良的技术。背景技术通常，在光学膜卷(roll)的工序过程中具有同一间隔的不良连续地以一定值以上产生的情况下，将该区域指定为特別管理区域，由产品检查员进一步进行检查。此时，产品检查员观察不良检测图(二维坐标图)来判断是否为周期性不良。但是，由于产品检查员间的熟练度的差别，而且难以感知不良检测图的X\/Y轴的刻度(scale)的变化带来的不良间的间隔基准的差异，所以对于大量的卷的正确且具有一贯性的周期性不良的确认及管理困难。而且在由产品检查员进行...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。