技术编号:13610699
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路测试技术领域,特别是涉及一种集成电路高电压大电流测试装置。
背景技术
随着电子技术的发展,集成电路越来越多的得到广泛的应用,但是在实际生产过程中,并不是所有的集成电路都是合格的,有的集成电路存在漏电的问题,若集成电路存在漏电的问题,则该集成电路是不合格的,不能投入使用,因此对集成电路进行电流电压测试是十分必要的。
目前,人们使用的集成电路进行电流电压测试时一般都是直接将待测集成电路插入测试设备的金手指内,由于测试设备都是将待测集成电...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。