技术编号:14174241
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于核磁共振探头技术领域,特别是涉及一种极弱磁性材料的检测方法。背景技术材料本身对于静磁场均匀性的影响是由磁化率(magnetic susceptibility)χ所决定的,任何材料在强磁场作用下都有可能被磁化,并产生磁性,进而诱发偶极磁矩的矢量场,即附加磁场。为了最大限度地降低对于主磁场的干扰,一般选择顺磁性物质(χ>0,|χ|≈10-5~10-6)和抗磁性物质(χ<0,|χ|≈10-5~10-6)用于探头的研制,尤其是射频线圈等部件过于靠近样品检测区域,对结构、均一性和制备工艺都提出很...
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