技术编号:14317507
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种进行电子模块的导通检查或特性测定等时所使用的接触装置、测定用插座及前端部适配器。背景技术以前,作为进行集成电路(Integrated circuit,IC)等电子零件的电性测定时所使用的接触装置之一,有测定用插座(以下,也简称为“插座”)。关于插座,使探针与所载置的电子零件的电极端子接触,而实现外部的测定机器与电子零件的电性导通。所述探针具有:与电极端子接触的接触器、以及对接触器提供施加力的弹簧。由此,当接触器与电极端子接触时,获得弹簧的缓冲作用与按压作用(例如,参照专利文献1...
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