技术编号:14681964
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体制造工艺技术领域,特别地,涉及一种沟槽型联栅晶体管及其制作方法。【背景技术】沟槽型联栅晶体管也简称为UPGAT,是一种新型的功率器件,沟槽型联栅晶体管同时具有MOSFET和BJT的优点,其主要特点为:导通电阻小,动态损耗小,开关速度快,二次击穿耐压高,功率容量和安全工作区大;具有负的温度系数,热稳定性好,抗冲击能力和抗高频辐射能力强。在集电极外加高压的情况下,联栅晶体管的深结栅区与集电区之间的空间电荷区发生横向扩展,将深栅区之间的沟道夹断,对基区起到静电屏蔽的作用,可以抑制基区的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。