技术编号:14735351
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属分析化学领域。具体而言,本发明涉及一种测定石墨烯粉体中阴离子含量的方法。背景技术石墨烯材料是制造透明导电薄膜、高频晶体管、储氢电池、集成电路等多种创新产品的理想材料,应用前景广阔。而石墨烯中阴离子杂质成分的残留则会对石墨烯产品的特定性能造成不良影响,因此残留的阴离子种类及其含量是评价石墨烯产品的一个重要指标。石墨烯粉体材料由于其质轻易飘散、难以浸润分散在溶剂中等特点,导致其在称量等实验操作过程中难以准确称量、阴离子提取过程中难以提取完全。目前还没有公开的成熟方法用于石墨烯粉体材料中阴离子...
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