技术编号:14784788
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种无源测距定位技术,特别是一种基于长基线干涉仪的无源测距方法。背景技术无源测距技术是指根据目标辐射和反射的信号进行测距的技术,由于角度测量的方法较为成熟,定位问题通常也可以转化为测距问题,因此测距技术在深空探测、无线电监测、航海、航空、航天、测控、电子对抗等领域都有广泛的用途,受到了国内外的重视。由于无法改变信号,根据目标辐射信号进行无源测距定位难度较高,常见的方法可以分为单站定位和多站定位两大类,多站定位方法由于系统相对复杂,且需要形成较长的基线,在一些条件下难以适用,因此单站测距...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。