技术编号:14874808
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数字集成电路测试技术领域,具体涉及一种用于低电压SRAM的稳定性故障测试方法。背景技术移动互联网应用的快速发展对智能移动设备的处理能力和续航时间提出了越来越高的要求。静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)是移动处理器的关键模块之一,SRAM速度快,容量较小,具有很好的兼容性,一般用作嵌入式存储器,即缓存或者暂存器。为了满足不断增长的性能和功耗需求,低电压SRAM的设计正逐渐成为业界的研究热点,为改善片上系统的整体性能,降低电源电压是提高电...
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