技术编号:15491532
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于加工技术领域,尤其涉及一种千分表校对仪。背景技术目前对千分表校对通常需要用量块手动进行校对,很难保证校对精度,而且效率低,无法进行全程校验。实用新型内容针对现有技术的不足,本实用新型要解决背景技术中的部分问题。为了解决上述问题,本实用新型提供了一种千分表校对仪,包括底座,位移传感器支架通过螺钉连接所述底座的左端,千分表支架通过螺钉连接所述底座的右端,上盖板设在所述位移传感器支架和所述千分表支架之间,检测块套设在所述上盖板上,丝母通过螺钉固定在所述检测块一端的底部,丝杠一端螺纹连接所...
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