技术编号:15974906
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于近场聚焦天线领域,具体涉及到毫米波近场二维扫描基片集成波导漏波缝隙阵天线。背景技术随着近场聚焦天线在微波毫米波成像、无线输能、门禁及射频识别等领域的广泛应用,对其扫描范围、扫描速率及性能提出了越来越高的要求。相控阵天线能够实现二维扫描满足近场应用的扫描速率要求,但是因其复杂的结构和高昂的成本不适用于毫米波或更高频段。为实现高频高速近场二维扫描,将一维频率扫描和一维相位扫描结合是一种有效形式。将频扫和相扫结合的近场二维扫描体制对毫米波近场二维扫描天线阵的设计提出了以下要求:(1)不同于远...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。