技术编号:16438210
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体技术领域,特别是涉及一种用于在纳米图形Si衬底上获得高质量厚膜AlN的衬底制备工艺及其外延方法。背景技术作为第三代半导体的III族氮化物,包括AlN、GaN和InN及其三元和四元合金,因其优异的光学性能和电学性能,特别是其三元合金的禁带宽度从AlN的6.1eV到InN的0.64eV连续可调,相应的带边发光波长覆盖范围由深紫外的200nm到红外的1.8μm,这些特性使得其在发光二极管(LED)、激光器(LD)和探测器(PD)等方面具有广泛的应用。在以蓝宝石、碳化硅和硅为衬底材料的氮...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。