技术编号：16534026
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例涉及通信技术领域，尤指一种芯片设计处理的方法及装置。背景技术随着芯片规模的不断增大和工艺节点的进一步缩小，功率密度进一步增大，电源完整性分析变得越来越重要。而从自动化测试的角度出发，现在的芯片都会将芯片中的寄存器串成链，来进行扫描测试，而该工作模式，芯片中的电路单元存在大范围同时工作的场景，对电源网络造成很大的冲击，存在测试模式时电路功能失效的风险。因而在当今的芯片设计中，需要确保扫描测试模式下保证电源的完整性，确保测试模式时，芯片能正常工作。所以提供稳定供电网络在芯片物理实现中变得...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。