技术编号：16909405
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及XRD测试技术领域，尤其涉及一种XRD测试粉末样品前处理装置。背景技术X射线衍射法是目前测定晶体结构的重要手段，尤其是定量获得材料的微结构参数而言,准确获取反映材料结构特征的XRD谱图非常重要。粉末衍射仪要求样品试片的表面是十分平整的平面。试片装上样品台后其平面必须能与衍射仪轴重合，与聚焦圆相切。试片表面与真正平面的偏离(表面形状不规则、不平整、凸出或凹下、很毛糙等等)会引起衍射线的宽化、位移以及使强度产生复杂的变化，对光学厚度小的(即吸收大的)样品其影响更为严重。但是，制取平整表...
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