技术编号:17065129
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量设备技术领域,尤其是涉及一种轴承游隙测量方法及其设备。背景技术现有技术中,轴承径向游隙的测量一般通过单点测量的方法测量,测量的具体方法如下:将轴承内圈固定,并在轴承外圈上取一点,通过该点向外圈施加径向力,令外圈做径向移动,外圈沿径向的移动量为轴承的径向游隙;或者,将轴承外圈固定,并在轴承内圈上取一点,通过该点向内圈施加径向力,令内圈做径向移动,内圈沿径向的移动量为轴承的径向游隙。通过单点测量的方法测量轴承的径向游隙测量精度低。因此,本申请针对上述问题提供一种新的轴承游隙测量方法及其...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。