技术编号：17314865
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测量设备技术领域，尤其是涉及一种测量工具。背景技术近代光学的飞速发展使得光学玻璃元件使用越来越广泛，从普通消费品到精密光学仪器、国防军工、通讯等市场的需求量日益巨增。光学零件其材质通常是由光学玻璃组成，由于材料的物理特性，这些元件在进行厚度加工时只能依靠胶或者蜡粘在工件盘上，然后装载到铣/磨设备中通过磨削的方式来加工，这样给产品厚度的实时测量带来了一定的困难，目前通常使用的测量产品厚度的方法为“测高法”。“测高法”首先测量零件加工前的厚度H1，然后将需要加工的零件粘接在工件盘上，之...
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