技术编号：17388416
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及热电半导体材料性能样品台，特别涉及一种采用对比法测量材料Seebeck系数的装置及方法。背景技术Seebeck系数是材料的固有热电属性，利用Seebeck效应的热电材料主要用于制作热电偶等温度传感器、温差发电片和半导体制冷片，准确测量出热电材料在不同温度下的Seebeck系数值对热电材料的研究和应用有重要的意义。现有的测量装置及方式为：将测试样品夹持在样品台之间，通过热电偶探针A和B和样品两端直接接触，从而测量两个接触点的温度以及探针A和B之间的电势差。在根据求解Seebeck系数的公...
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