技术编号：17437882
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试装置及含有测试装置的分类装置。背景技术一直以来，被认知为测试发光元件等电子元件的特性再依据测试结果进行分类电子元件的装置。在这样的装置，透过承载发光元件的测试台形成孔，以探针接触发光元件的端子进行通电来测试发光元件的光学特性。以探针接触发光元件端子之际，为了让发光元件之位置不会因探针加压力道而产生偏移，必须实施一些对策。例如在专利文献1（特开2005－233663号公报）所提到，从探针接触方向的反侧压住发光元件的发光面边缘部分以抑制发光元件的位置偏移。然而，近年随着发光元件朝微...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。