技术编号:17598544
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种识别老化回收集成电路的片上检测系统及测试方法,尤其是一种能够利用路径时延校准的方式识别出老化或回收集成电路的片上检测系统和测试方法,属于集成电路可测性设计(Design For Test)领域。背景技术近年来,越来越多的伪造集成电路(Counterfeit Integrated Circuit)流入电子元器件供应链中。这不仅给集成电路设计和制造厂商带来了觉得经济损失,同样给用户带来了重大的安全威胁和隐患。如今伪造集成电路已经成为政府和整个电子信息产业的共同担忧。其中超过80%的伪造...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。