技术编号：17632921
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体而言涉及电路测试领域，具体而言，涉及一种模拟信号测试电路。背景技术微控制单元(MCU)和嵌入式系统(SOC)等电子设备在设计阶段、如芯片试验(Chip Probing)和最终测试(Final Test)阶段、和/或制造阶段需要分别对其模拟电路和数字电路进行测试以检验各模块或部件的功能。对于数字电路测试，用于MCU的测试电路例如包括扫描链(scan chain)，用于内部memory的测试电路例如包括BIST(Built-in Self Test)。对于模拟电路测试，目前还没有较完备的测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。