技术编号:17944274
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试装置,具体涉及一种键盘矩阵阻抗测试装置。【背景技术】键盘处于零件样品承认时,需要使用微欧姆计来测量每个键帽(keycap)在矩阵中的接触阻抗的大小,从而获知其接触状况是否良好,功能是否正常。接触阻抗反映出键盘每个键帽所处的触发点在其回路中是否接触完好且回路畅通,不会产生功能不良,部分键实效等,也不会导致后期使用可靠性偏差的状况。键盘阻抗的测量主要处于单体初到,或者高温、低温、湿度、雨淋、防尘、振动落摔之后的接触回路的检测。通常键盘矩阵的阻抗规格,在环境及可靠性测试实验前后,常规键会...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。