键盘矩阵阻抗测试装置的制作方法

本发明涉及测试装置，具体涉及一种键盘矩阵阻抗测试装置。

背景技术：

键盘处于零件样品承认时，需要使用微欧姆计来测量每个键帽(keycap)在矩阵中的接触阻抗的大小，从而获知其接触状况是否良好，功能是否正常。接触阻抗反映出键盘每个键帽所处的触发点在其回路中是否接触完好且回路畅通，不会产生功能不良，部分键实效等，也不会导致后期使用可靠性偏差的状况。键盘阻抗的测量主要处于单体初到，或者高温、低温、湿度、雨淋、防尘、振动落摔之后的接触回路的检测。

通常键盘矩阵的阻抗规格，在环境及可靠性测试实验前后，常规键会低于250毫欧，功能键会低于300毫欧。

请参阅图1，图1绘示为现有技术的一种键盘矩阵阻抗测试装置示意图。如图所示，该键盘100包括若干个键帽101，该若干个键帽101对应一个键盘矩阵，各键帽101具有一个二维坐标，该键盘100的各键帽101的输出通过一个碳带102与外界连接，该碳带102上具有对应上述二维坐标的碳带引脚103，例如包括16个横坐标x的碳带引脚103以及8个纵坐标y的碳带引脚103。现有技术在测试某个键帽101时，是将微欧姆计的探针104，去接触该键帽101对应二维坐标的两个碳带引脚103，按压该键帽101，进行测试并通过微欧姆计获得数值，与测试标准进行比较，以确定测试是否通过。

然而，采用上述方式进行测试时，由于碳带引脚103通常是密密麻麻的，没有数值标记，因此测量时无法较快找到对应键帽101坐标的两个碳带引脚103，操作麻烦；并且由于碳带引脚103很密，间距很小(约0.5毫米)，所以微欧姆计所用测试探针104不易与碳带引脚103接触良好，经常需要多次点击尝试。

有鉴于此，实有必要提供一种键盘矩阵阻抗测试装置，以解决上述问题。

技术实现要素：

因此，本发明的目的是提供一种键盘矩阵阻抗测试装置，解决测试时操作麻烦、无法快速达到测试目的的问题。

为了达到上述目的，本发明的键盘矩阵阻抗测试装置，包括：

测试用连接器，其一端具有插设键盘的碳带的接口，另一端具有依序排列的若干个第一引脚孔，各该第一引脚孔与所述碳带的碳带引脚一一对应连接，该若干个第一引脚孔分为对应键盘矩阵x轴的第一区域及对应键盘矩阵y轴的第二区域；

测试用转接板，其一端与所述测试用连接器处于第二区域的各该第一引脚孔连接，另一端具有若干个依序排列的第二引脚孔，各该第二引脚孔与该第二区域的该第一引脚孔一一对应连接；

微欧姆计，具有两个探针，各探针分别插入所述第一引脚孔及第二引脚孔。

可选的，该第一区域内的各该第一引脚孔具有坐标标识。

可选的，该第二区域上的各该第一引脚孔具有坐标标识。

可选的，所述第一引脚孔为铜箔孔。

可选的，所述第二引脚孔为铜箔孔。

可选的，该第二引脚孔具有坐标标识。

可选的，所述测试用连接器与所述测试用转接板垂直放置。

可选的，所述测试用连接器与所述测试用转接板并排放置。

可选的，该第一区域的所述第一引脚孔的个数为16个，该第二区域的所述第一引脚孔的个数为8个。

可选的，所述第一引脚孔及第二引脚孔的孔径皆大于1毫米。

相较于现有技术，本发明的键盘矩阵阻抗测试装置，于测试时，仅需对照键盘矩阵的坐标，将欧姆计的探针插入对应的第一引脚孔及第二引脚孔，按压键盘的某个键帽，得出该键帽的接触阻抗，以判断测试是否通过。由于是将探针插入第一引脚孔及第二引脚孔，因此插入更加方便，操作简单，且插入准确，接触良好；在测试用连接器及测试用转接板上分别观察对应键盘矩阵二维坐标的标识，方便操作者正确选择对应的第一引脚孔及第二引脚孔。

【附图说明】

图1绘示为现有技术的一种键盘矩阵阻抗测试装置示意图。

图2绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第一实施例的结构示意图。

图3绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第一实施例的分解结构示意图。

图4绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第二实施例的结构示意图。

【具体实施方式】

请结合参阅图2、图3、图3，图2绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第一实施例的结构示意图、图3绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第一实施例的分解结构示意图。

为了达到上述目的，本发明的键盘矩阵阻抗测试装置，包括：

测试用连接器200，其一端具有插设键盘201的碳带202的接口203，另一端具有依序排列的若干个第一引脚孔204，各该第一引脚孔204与所述碳带202的碳带引脚205一一对应连接，该若干个第一引脚孔204分为对应键盘矩阵x轴的第一区域206及对应键盘矩阵y轴的第二区域207；

测试用转接板208，其一端与所述测试用连接器200处于第二区域207的各该第一引脚孔204连接，另一端具有若干个依序排列的第二引脚孔209，各该第二引脚孔209与该第二区域207的该第一引脚孔204一一对应连接；

微欧姆计210，具有两个探针211，各探针211分别插入所述第一引脚孔204及第二引脚孔209。

于该第一实施例，所述测试用连接器200与所述测试用转接板208垂直放置，方便操作者依照坐标习惯观察后操作。

其中，该第一区域206内的各该第一引脚孔204可以具有坐标标识，该第二区域207上的各该第一引脚孔204可以具有坐标标识，该第二引脚孔209可以具有坐标标识。

其中，所述第一引脚孔204可以为铜箔孔，所述第二引脚孔209可以为铜箔孔；铜箔具有较好的导电效果。

其中，所述第一引脚孔204及第二引脚孔209的孔径皆大于1毫米，方便操作者将探针211插入。

其中，该第一区域206的所述第一引脚孔204的个数可以为16个，该第二区域207的所述第一引脚孔204的个数可以为8个；对应x轴与y轴的排序分别为16个及8个。当然，上述个数只是举例，实际可以为其它个数，依键盘矩阵的实际情况而定。

相较于现有技术，本发明的键盘矩阵阻抗测试装置，于测试时，仅需对照键盘矩阵的坐标，将欧姆计210的探针211插入对应的第一引脚孔204及第二引脚孔209，按压键盘201的某个键帽212，得出该键帽212的接触阻抗，以判断测试是否通过。由于是将探针211插入第一引脚孔204及第二引脚孔209，因此插入更加方便，操作简单，且插入准确，接触良好；在测试用连接器200及测试用转接板208上分别观察对应键盘矩阵二维坐标的标识，方便操作者正确选择对应的第一引脚孔204及第二引脚孔209。

请结合参阅图4，图4绘示为本发明的键盘矩阵阻抗测试装置第二实施例的结构示意图。

其中，于该第二实施例，所述测试用连接器200与所述测试用转接板208并排放置，如此可以方便所述测试用转接板208与测试用连接器200间的连接。

需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。