技术编号：18014181
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光谱仪校准领域，具体为一种X射线荧光光谱仪校准装置。背景技术X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线而进行物质成分分析和化学态研究，光谱仪的校准主要是通过改变数据多次测量同一块铜合金标准样品十次，并计算其标准值。但是现有的光谱仪校准方法，在改变数据的情况下对铜合金标准样品多次测量，这样会多次取放铜合金标准样品，增加了来回换测的时间，降低了校准的效率，若一直不...
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