一种X射线荧光光谱仪校准装置的制作方法

本实用新型涉及光谱仪校准领域，具体为一种X射线荧光光谱仪校准装置。

背景技术：

X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线而进行物质成分分析和化学态研究，光谱仪的校准主要是通过改变数据多次测量同一块铜合金标准样品十次，并计算其标准值。

但是现有的光谱仪校准方法，在改变数据的情况下对铜合金标准样品多次测量，这样会多次取放铜合金标准样品，增加了来回换测的时间，降低了校准的效率，若一直不移动铜合金标准样品会导致测量结果会出现单一性，从而影响测量结果，导致校准不够精确。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种X射线荧光光谱仪校准装置，以解决上述背景技术中提出现有的光谱仪校准方法，在改变数据的情况下对铜合金标准样品多次测量，这样会多次取放铜合金标准样品，增加了来回换测的时间，降低了校准的效率，若一直不移动铜合金标准样品会导致测量结果会出现单一性，从而影响测量结果，导致校准不够精确的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种X射线荧光光谱仪校准装置，包括放置盒，所述放置盒上端活动连接有控制杆，所述控制杆下端穿过放置盒上端延伸至放置盒内部，所述控制杆下端固定连接有第一齿条，所述第一齿条下端固定连接有触发块，所述触发块下端活动连接有反弹器，所述反弹器下端与放置盒内部下端固定连接，所述第一齿条下端外侧固定连接有弹簧，所述弹簧下端与放置盒下端固定连接，所述反弹器位于弹簧内侧，所述第一齿条外侧啮合连接有齿轮轴，所述齿轮轴两端固定连接有传动齿轮，所述传动齿轮外侧与放置盒内壁转动连接，所述传动齿轮下端啮合连接有第二齿条，所述第二齿条下端固定连接有滑块，所述滑块下端活动连接有滑轨，所述滑轨下端与放置盒固定连接，所述第二齿条前端固定连接有固定板，所述固定板内侧开设有卡定孔，所述放置盒前端开设有通过槽，所述放置盒下端活动连接有光谱仪，所述光谱仪内部中端固定连接有检测口，所述光谱仪上端预留有通过孔。

优选的，所述第一齿条与齿轮轴相适配，且齿轮轴与第一齿条垂直中心线重叠。

优选的，所述触发块与反弹器相适配，且触发块与反弹器的垂直中线重叠。

优选的，所述触发块与反弹器贴合时卡定孔与检测口垂直中心线重叠。

优选的，所述弹簧内侧与反弹器外侧存在一定距离差，且反弹器与触发块贴合时弹簧收缩至最短长度。

优选的，所述弹簧回弹至正常状态时固定板前端与检测口存在一定水平距离差。

优选的，所述通过孔的直径与控制杆直径相等，且控制杆长度大于放置盒上端到光谱仪上端的长度。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该X射线荧光光谱仪校准装置，在现有的光谱仪校准上进行改动，通过使用齿轮轴和齿条配合使传动齿轮带动第二齿条前后运动，达到让铜合金标准样品自动前移和后退的效果，减少了校准人员来回跑动移动铜合金标准样品的时间，加快了校准的效率，且解决了一直不移动铜合金标准样品会导致测量结果会出现单一性，从而影响测量结果，导致校准不够精确的问题，同时铜合金标准样品通过控制杆控制，且控制杆下端设置有反弹器和触发块，让铜合金标准样品来回移动可以在光谱仪外面控制，并轻松固定，提高了测量的效率和准确率，从而是校准变得更加轻松、准确。

附图说明

图1为本实用新型正面剖面结构示意图；

图2为本实用新型侧面剖面结构示意图；

图3为本实用新型俯视剖面结构示意图；

图4为本实用新型立体结构示意图。

图中：1、放置盒；2、控制杆；3、第一齿条；4、触发块；5、反弹器；6、弹簧；7、齿轮轴；8、传动齿轮；9、第二齿条；10、滑块；11、滑轨；12、固定板；13、卡定孔；14、通过槽；15、光谱仪；16、检测口；17、通过孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种X射线荧光光谱仪校准装置，包括放置盒1，放置盒1上端活动连接有控制杆2，控制杆2下端穿过放置盒1上端延伸至放置盒1内部，控制杆2下端固定连接有第一齿条3，第一齿条3下端固定连接有触发块4，触发块4下端活动连接有反弹器5，反弹器5是靠触发块4按动上端按钮，使两端卡条弹起卡住触发块4从而固定的装置，再次按下卡条就会弹开，是现实中已有装置，且不为本设计重点，所以不多做描述，反弹器5下端与放置盒1内部下端固定连接，第一齿条3下端外侧固定连接有弹簧6，弹簧6下端与放置盒1下端固定连接，反弹器5位于弹簧6内侧，第一齿条3外侧啮合连接有齿轮轴7，齿轮轴7两端固定连接有传动齿轮8，传动齿轮8外侧与放置盒1内壁转动连接，传动齿轮8下端啮合连接有第二齿条9，第二齿条9下端固定连接有滑块10，滑块10下端活动连接有滑轨11，滑轨11下端与放置盒1固定连接，第二齿条9前端固定连接有固定板12，固定板12内侧开设有卡定孔13，放置盒1前端开设有通过槽14，放置盒1下端活动连接有光谱仪15，光谱仪15是测量物体金属成分的仪器，是现实中已有装置，且不为本设计重点，所以不多做描述，光谱仪15内部中端固定连接有检测口16，光谱仪15上端预留有通过孔17。

进一步的，第一齿条3与齿轮轴7相适配，且齿轮轴7与第一齿条3垂直中心线重叠，保证第一齿条3上下移动时可以带动齿轮轴7旋转。

进一步的，触发块4与反弹器5相适配，且触发块4与反弹器5的垂直中线重叠，确保触发块4可以准确触发反弹器5。

进一步的，触发块4与反弹器5贴合时卡定孔13与检测口16垂直中心线重叠，保证控制杆2按下时检测口16正对铜合金标准样品。

进一步的，弹簧6内侧与反弹器5外侧存在一定距离差，且反弹器5与触发块4贴合时弹簧6收缩至最短长度，确保弹簧6不会干扰反弹器5的弹开和收紧。

进一步的，弹簧6回弹至正常状态时固定板12前端与检测口16存在一定水平距离差，保证控制杆2弹起时，检测口16上端不存在其他物体。

进一步的，通过孔17的直径与控制杆2直径相等，且控制杆2长度大于放置盒1上端到光谱仪15上端的长度，保证控制杆2延伸至光谱仪15上端，从而可以在外部进行控制。

工作原理：首先将放置盒1放在光谱仪15内部，接着将铜合金标准样品卡合连接在卡定孔13内部，并调整好放置盒1的位置使铜合金标准样品处于检测口16的正下方，接着把光谱仪15的盖子合上，使控制杆2裸露在外面，同时对铜合金标准样品进行检测，检测第一次后，按下控制杆2，控制杆2带动第一齿条3下端的触发块4下压触发反弹器5，解开反弹器5的锁定，第一齿条3在弹簧6的作用下弹起并带动齿轮轴7反转，由于齿轮轴7两端固定连接有传动齿轮8，且传动齿轮8下端啮合连接有第二齿条9，由于第二齿条9下端固定连接的滑块10可以在滑轨11内移动，所以传动齿轮8反转并带动第二齿条9前端的固定板12后移，使铜合金标准样品移出检测口16的范围，接着记录检测数据，记录完以后按下控制杆2使齿轮轴7正转，并带动铜合金标准样品前移至检测口16下方继续监测，由于反弹器5固定作用，所以铜合金标准样品一定会移动到检测口16下方，反复按此操作即可获得多组检测结果，通过计算便可以校准光谱仪15的偏差了。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。