技术编号：18226761
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于固体材料热物性参数测试技术领域，具体涉及一种圆形截面一维纳米结构间接触热阻的测试方法。背景技术一维纳米结构间的接触热阻对于微电子器件设计、热界面材料设计等具有重要的价值。已报道的测量一维纳米结构间接触热阻的测试方案可分为两类：一类可称作多点法，一类可称作单点法。在多点法中，将纳米结构堆压成薄膜，这样在薄膜中就存在大量的纳米结构间的接触点，通过测试薄膜样品的热物性即可反推出纳米结构间的接触热阻，如文献Physical Review Letters 102,105901(2009)。然而，...
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