技术编号:18335102
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及MOS领域,尤其涉及一种检测MOS短路的新型系统。背景技术目前在半导体行业经常会使用到MOS进行电路的开关,放大,限幅等作用,但是在使用过程中,因为一些外部或者内部的原因可能会导致MOS损坏短路的情况,如果不能及时地被系统识别到该异常情况,可能会导致严重的安全风险。在一些应用型电路中,针对功率型负载,一般会使用热敏器件来检测MOS的温升,当MOS发生异常后其温升急剧上升,系统通过检测热敏器件的参数变化来发现MOS的异常情况,但是这种检测系统需要增加热敏器件,同时需要保证MOS对热敏...
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