技术编号:18412326
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学超分辨显微领域,特别涉及一种并行探测荧光发射差分显微成像的方法和装置。背景技术这几个世纪以来,光学显微镜在科学中发挥了重要作用,为人们观测微观结构及其运动提供了一种可行的方法。然而,阿贝衍射极限将常规荧光显微镜的分辨能力限制在约为照明光波长的一半,限制了长度尺度小于 100nm的微结构观察。为此,人们发明了各种超分辨显微技术,而共焦显微成像技术是其中应用最为广泛的一种。共焦成像系统高使用率高主要是由于该技术能够生成具有高对比度的光学切片图像,突破了普通光学显微镜衍射极限的限制,横向...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。