技术编号：18459850
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板母板。背景技术现有技术中，阵列基板的母板上有多个阵列基板区域，如图1和图2所示，每个阵列基板区域02之间的间隙处设置有测试区域03，用于对阵列基板区域03进行测试，通常，测试区域03所需的空间为所有测试垫031的所占面积与测试线032所有走线所需面积的和，即每个阵列基板区域032之间的间隙需大于测试垫031的宽度以及测试线032所有走线所需的空间的和，因此，现有技术中，由于测试区域032所占空间较大，使得母板的利用率较低。发明内容本发明提供了一种阵列基...
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