技术编号：20199732
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体芯片测试领域。尤其涉及一种兼容老化测试的方法及其芯片。背景技术现有技术中的半导体芯片的可靠性测试等耐久性老化测试(biburnin)采用的是基础型功能测试，即芯片的工作频率会降低到较低的频率以下。这是由于成本控制，老化测试机台的输出驱动能力弱，速度低，从而造成由老化测试机台输入到被测试产品的信号上升下降速度慢，且信号噪声(noise)极大。老化测试机台(设备)在进行某些产品的老化测试(bi)时，尤其是针对高速芯片的测试时，由于这些高速芯片的接收模块(receiver)的灵敏度很高...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。