技术编号：20937699
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及氧化锌晶界结构研究领域，特别是一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法。背景技术刘俊等曾提出了一种描述单晶界老化过程的仿真算法，该算法的核心在于对电场作用下双肖特基势垒区域离子的迁移、中和行为导致势垒高度降低过程的刻画。在刘俊等人的工作中，为了建模的简便，将晶界结构中具有一定厚度的晶间层抽象为无限薄。缺陷离子为了完成一次跃迁过程，即从一处半稳定位置运动至相邻半稳定位置，需要克服一个高度为u0的能量势垒。这种缺陷离子的跃迁过程的持续进行造成的离子的扩散即构成了离子“迁移”过程。此处必须指出，缺...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。