技术编号:22007315
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于薄膜测厚仪的技术领域,具体涉及一种光学薄膜测厚仪。背景技术由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器,主要的光学薄膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用,获得了科学技术工作者的日益重视;但是在实际测量中,其中测量的工作台万一不平,则会导致测量误差;且探头的位置高度以及位置都是固定不动的,影响多角度观察测量。...
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