一种光学薄膜测厚仪的制作方法

本实用新型属于薄膜测厚仪的技术领域，具体涉及一种光学薄膜测厚仪。

背景技术：

由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器，主要的光学薄膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视；但是在实际测量中，其中测量的工作台万一不平，则会导致测量误差；且探头的位置高度以及位置都是固定不动的，影响多角度观察测量。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种光学薄膜测厚仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种光学薄膜测厚仪，包括底座，所述底座的上侧设置有工作台，所述底座的下侧设置有两组校准螺栓，所述校准螺栓贯穿所述底座与所述工作台活动连接，所述底座的左侧开设有滑轨，所述滑轨的内部活动连接有移动轮，所述移动轮上固定连接有移动板，所述移动板的上侧固定连接有支撑管，所述支撑管的内部开设有空槽，所述空槽的内部插接有偏移板，所述所述偏移板的上端贯穿所述支撑管且延伸至外侧，所述支撑管的前侧开设有齿轮槽，所述齿轮槽内部通过滚轴固定连接有齿轮，所述齿轮与所述偏移板啮合，所述支撑管右侧开设有移动槽，所述偏移板右侧固定连接有连接杆，所述连接杆右端贯穿移动槽并固定连接有光学探头。

进一步的，所述校准螺栓在所述工作台的底侧均匀分布，且通过滚轴与所述工作台的底侧活动连接。

进一步的，所述底座的下侧均匀固定连接有四组吸盘。

进一步的，所述光学探头上设置有usb接口，外接有电源以及显示屏。

进一步的，所述支撑管为中空结构，且为半封闭结构。

进一步的，所述偏移板的右侧固定连接有齿块，所述齿块在所述偏移板上均匀排列，且与所述齿轮相匹配。

进一步的，所述移动槽的高度与所述支撑管的长度大小相等。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种光学薄膜测厚仪，具备以下有益效果：

本实用新型通过设置有校准螺栓，且校准螺栓与底座和工作台连接，这样的设置，当工作台发生位置偏移时，可以通过调整校准螺栓，使工作台始终保持在水平位置；设置有滑轨，使光学探头可以在底座上移动，可以更好的贯穿物体的厚度，设置的齿轮与偏移板啮合，可以调节光学探头的高度。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的正视图；

图2为本实用新型左视图。

图中：1底座、2吸盘、3校准螺栓、4工作台、5移动板、6滑轨、7移动轮、8支撑管、9齿轮、10齿轮槽、11偏移板、12连接杆、13光学探头、14空槽、15移动槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，本实用新型提供一种技术方案：一种光学薄膜测厚仪，包括底座1，所述底座1的上侧设置有工作台4，所述底座1的下侧设置有两组校准螺栓3，所述校准螺栓3贯穿所述底座1与所述工作台4活动连接，所述底座1的左侧开设有滑轨6，所述滑轨6的内部活动连接有移动轮7，所述移动轮7上固定连接有移动板5，所述移动板5的上侧固定连接有支撑管8，所述支撑管8的内部开设有空槽14，所述空槽14的内部插接有偏移板11，所述所述偏移板11的上端贯穿所述支撑管8且延伸至外侧，所述支撑管8的前侧开设有齿轮槽10，所述齿轮槽10内部通过滚轴固定连接有齿轮9，所述齿轮9与所述偏移板11啮合，所述支撑管8右侧开设有移动槽15，所述偏移板11右侧固定连接有连接杆12，所述连接杆12右端贯穿移动槽15并固定连接有光学探头13。

根据图1所示，所述校准螺栓3在所述工作台4的底侧均匀分布，且通过滚轴与所述工作台4的底侧活动连接，这样的设置可以调节工作台4的高度，也可调节工作台4的水平角度。

根据图1所示，所述底座1的下侧均匀固定连接有四组吸盘2。

根据图1所示，所述光学探头13上设置有usb接口，外接有电源以及显示屏，通过显示屏可以了解探头测量物体的厚薄度。

根据图2所示，所述支撑管8为中空结构，且为半封闭结构，支撑管8上侧设置有通口，可以使偏移板11上移，设置有移动槽15可以让连接杆11上移，从而使光学探头11上移。

根据图2所示，所述偏移板11的右侧固定连接有齿块，所述齿块在所述偏移板11上均匀排列，且与所述齿轮9相匹配，这样的设置可以通过旋转齿轮9可以上偏移板11上移或下移，使光学探头11上下移动。

根据图1所示，所述移动槽15的高度与所述支撑管8的长度大小相等。

本实用新型的工作原理及使用流程：在使用一种光学薄膜测厚仪时，把需要测量的物体放置在工作台4上，当工作台4的角度不是水位位置时，调节校准螺栓3，使校准螺栓3保持在同一个高度，从而使工作台4在一个水平高度，当需要测量的物体厚薄不一致时，可以移动移动轮7，使移动轮7前后移动，带动光学探头13前后移动，可以观察被测量物体不同的厚薄度；当需要调节光学探头13的高度时，旋转齿轮9，齿轮9会转动时，会带动偏移板11上下移动，从而带动光学探头13上下移动，从而可以调节光学探头13的高度。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种光学薄膜测厚仪，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的上侧设置有工作台（4），所述底座（1）的下侧设置有两组校准螺栓（3），所述校准螺栓（3）贯穿所述底座（1）与所述工作台（4）活动连接，所述底座（1）的左侧开设有滑轨（6），所述滑轨（6）的内部活动连接有移动轮（7），所述移动轮（7）上固定连接有移动板（5），所述移动板（5）的上侧固定连接有支撑管（8），所述支撑管（8）的内部开设有空槽（14），所述空槽（14）的内部插接有偏移板（11），所述偏移板（11）的上端贯穿所述支撑管（8）且延伸至外侧，所述支撑管（8）的前侧开设有齿轮槽（10），所述齿轮槽（10）内部通过滚轴固定连接有齿轮（9），所述齿轮（9）与所述偏移板（11）啮合，所述支撑管（8）右侧开设有移动槽（15），所述偏移板（11）右侧固定连接有连接杆（12），所述连接杆（12）右端贯穿移动槽（15）并固定连接有光学探头（13）。

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述校准螺栓（3）在所述工作台（4）的底侧均匀分布，且通过滚轴与所述工作台（4）的底侧活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述底座（1）的下侧均匀固定连接有四组吸盘（2）。

4.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述光学探头（13）上设置有usb接口，外接有电源以及显示屏。

5.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述支撑管（8）为中空结构，且为半封闭结构。

6.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述偏移板（11）的右侧固定连接有齿块，所述齿块在所述偏移板（11）上均匀排列，且与所述齿轮（9）相匹配。

7.根据权利要求1所述的一种光学薄膜测厚仪，其特征在于：所述移动槽（15）的高度与所述支撑管（8）的长度大小相等。

技术总结
本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪，属于薄膜测厚仪的技术领域，包括底座，所述底座的上侧设置有工作台，所述底座的下侧设置有两组校准螺栓，所述校准螺栓贯穿所述底座与所述工作台活动连接，所述底座的左侧开设有滑轨，从而使工作台在一个水平高度，当需要测量的物体厚薄不一致时，可以移动移动轮，使移动轮前后移动，带动光学探头前后移动，可以观察被测量物体不同的厚薄度；当需要调节光学探头的高度时，旋转齿轮，齿轮会转动时，会带动偏移板上下移动，从而带动光学探头上下移动，从而可以调节光学探头的高度。

技术研发人员：兰慧琴;雷芳芳;曾思通
受保护的技术使用者：福建船政交通职业学院
技术研发日：2020.03.04
技术公布日：2020.08.28